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不合格品率P图作业指导书 1.0 目的 对特殊/关键特性实施有效的过程控制，确保产品加工过程处于稳定的受控状态。 2.0 范围 适用于计数型的特殊/关键特性的过程控制。 3.0 职责 3.1数据收集和监控：特殊/关键特性所在工序的操作员工。 3.2分析与整改：由生产部门主持，相关部门参与。 4.0 定义 计数型数据：指可以用来记录和分析的定性数据，其结果只能用简单的“是/否”的形式来记录（通常不能或无必要记录其具体的测量值），以“不合格/合格”的形式来收集。 P图：用来测量在一批检验项目中不合格品（不合格或所谓的缺陷）项目的百分数。 5.0 实施办法 5.1 准备 A. 确定实施对象 由车间主任/带班师傅负责，根据产品的“控制计划”或“工艺文件”规定，确定需要采用“P 图”控制的计数型的特殊/关键特性。 B. 确保过程处于受控状态 采取措施，消除不必要外部原因引起的变差，或使不必要的变差最小化； 注：只有当过程处于受控状态时，采用“P图”对该过程实施监控才是有意义和有效的。 C．确保该工序的操作员工已接受本作业指导书的培训，并已理解和能熟练运用。 D. 所采用检测器具是可以接受的，即根据测量系统分析（MSA）的结果是可以接受的。 5.2 收集数据 A. 选择子组（样本）的容量，频率及数量 应根据产品“控制计划”和“工艺文件”规定，确定子组（样本）容量，子组（样本）容量应足够大， 例如 50 到200 或更多，其容量应是恒定的或其变化不超过±25%；组数不小于25 组。 收集数据的时间应足够长。 5.3 计算每个子组（样本）内的不合格品率（P） 记录每个子组（样本）的下列值： 被检项目的数量— n 发现的不合格项目的数量— np 通过这些数据计算不合格品率：P= np/ n 5.4 确定控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图，应将不合格品率作为纵坐标，子组（样本）（样本）识别（小时、天等）作为横坐标。纵绘标的记刻度应从0 到初步研究数据中最大的合格率值的1.5 到2倍的值。 5.5 将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组（样本）的P值，将这些点联成通常有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理。如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。记录过程的变化或者可能影响过程的异常情况，当这些情况被发现时，将它们记录在案在控制图的“备注”部分。 5.6 计算控制 1) 计算过程平均不合格品率（P） 对于 K 个子组（样本）的研究时期，计算不合格品率的均值如下： P= (n1p1+ n2p2+….+ nKpK)/( n1+ n2+….+ nK) 式中：n1p1，n2p2……及n1，n2…为每个子组（样本）内的不合格项目数及检查的项目数。 注意：不要混淆不合格品百分数（P×100）和不合格品率（P）。 2）计算上、下控制限（UCL，LCL） 对于K 个子组（样本）（样本）的研究时期，按下式计算上下控制限： PUCL= p+3√p(1- p) /√n P LCL= p--3√p(1- p) /√n 式中：n为恒定的样本容量。 注：当P 很小和/或n 很小时，LCL 的计算值有时会为负值，在这种情况下则没有下控制限，因为即使在极精确的时期内P=0，也在随机变差极限之内。 3) 画线并标注 ·过程均值（P）——水平实线。 ·控制限（PUCL，P LCL）——水平虚线。 在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限。 注：上述给出的控制限计算公式适用于子组（样本）容量相同的情况下。 5.7 过程控制用控制图解释 1) 分析数据点，找出不稳定的证据 ※ 超出控制限的点 a. 超出任一控制限就证明在那点不稳定。应标注任何超出控制的点。 b. 链-- 在一个受控的，np 较大的过程中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等。下列任一情况都表明过 程变化或开始有变化的趋势： ·连续 7点位于均值的一侧； ·连续 7点上升（后者与前者相等或比前者大）或连续地下降。 在这些情况下，应对促使采取措施的点进行标记（例如第7 个高于平均值的点），分析时应考虑趋势出现或开始变化时的大致时间。 ※ 出现高于均值的长链或连续上升的点，通常表明存在下列情况之一或两者： ·过程的性能已___________恶化——而且可能还在恶化； ·评价系统已改变。 ※ 出现低于均值的长链或连续下降，通常表明在下列情况之一： ·过程性能改进（应研究其原因，并将它固定下来）； ·评价系统已改变。 注：当np很小（5 以下）时，出现低于P的链的可能性增加，故有必要用长度为8 点或更多的点的长链来作为不合格品率降低的标志。 ※ 明显的非随机图形表明存在变差的特殊原因，下面给出验证异常的分布方法： 点到过程均值的距离：通常，在一个处于统计控制状态，仅存在普通原因变差并且其np是等