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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利说明书
(10)申请公布号CN102226064A
(43)申请公布日2011.10.26
(21)申请号CN201110110788.8
(22)申请日2011.04.29
(71)申请人浙江大学
地址310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号
(72)发明人皮孝东王蓉刘耀华杨德仁
(74)专利代理机构杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人胡红娟
(51)Int.CI
C09J7/00
C09J123/08
C09J11/04
H01L31/048
H01L31/055
权利要求说明书说明书幅图
(54)发明名称
含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜
及其制备方法和应用
(57)摘要
本发明公开一种含有量子点的乙烯-
醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,包括以下步
骤:用改性剂对半导体量子点的表面进行
亲水性或亲油性改性,再将改性后的半导
体量子点均匀分散在溶剂中,形成半导体
量子点墨水,然后把半导体量子点墨水、
乙烯-醋酸乙烯酯共聚物和助剂混合,经过
热压成型或挤出成型,得到含有半导体量
子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜。该制备方法
简单,可控性好,可操作性强,易于工业
化生产。本发明还公开了一种含有量子点
的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜,应用于太阳电
池,能有效提高太阳电池的利用效率。
法律状态
法律状态公告日法律状态信息法律状态
权利要求说明书
1.一种含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征在于,包括以下步
骤:用改性剂对半导体量子点的表面进行亲水性或亲油性改性,再将改性后的半导
体量子点均匀分散在溶剂中,形成半导体量子点墨水,然后把半导体量子点墨水、
乙烯-醋酸乙烯酯共聚物和助剂混合,经过热压成型或挤出成型,得到含有量子点
的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜。
2.根据权利要求1所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的半导体量子点为第四主族元素的单质的量子点、由第四主族元素的单
质组成的合金的量子点、第三主族和第五主族元素组成的化合物半导体量子点或者
由第二副族和第六主族元素组成的化合物半导体量子点。
3.根据权利要求2所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的第四主族元素的单质的量子点为硅量子点;
所述的由第三主族和第五主族元素组成的化合物半导体量子点为磷化铟量子点;
所述的由第二副族和第六主族元素组成的化合物半导体量子点为硒化镉量子点。
4.根据权利要求1所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的改性剂含有亲水基团和能与半导体量子点相连的不饱和碳碳双键;所
述的溶剂为极性溶剂;
或者,所述的改性剂含有亲油基团和能与半导体量子点相连的不饱和碳碳双键;所
述的溶剂为非极性溶剂。
5.根据权利要求4所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的改性剂为十一碳烯酸、丙烯酸、烯丙疏醇、丙烯胺中的一种或多种;
所述的溶剂为乙醇;
或者,所述的改性剂为苯乙烯、正十二烯、正十八烯中的一种或多种;所述的溶剂
为正庚烷。
6.根据权利要求1所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的半导体量子点的尺寸为0.5~50纳米;
或者,所述的乙烯-醋酸乙烯酯共聚物中醋酸乙烯酯的重量百分含量为28%~35%;
或者,所述的改性的条件为:将半导体量子点与改性剂在温度为70~90℃的无氧
环境下反应或者将半导体量子点与改性剂在紫外灯的辐照下的无氧环境下反应。
7.根据权利要求1所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜的制备方法,其特征
在于,所述的助剂为抗氧剂、交联剂和增粘剂;
所述的含有量子点的乙烯-醋酸乙烯酯胶膜由以下重量百分比的原料制成:半导体
量子点0.01%~20
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