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图6-78 源定位分类 图6-79 区域定位 (a) 独立通道控制定位； (b) 按信号到达顺序区域定位 　　2． 时差定位 　　1） 一维(线)定位 　　一维(线)定位就是在一维空间中确定声发射源的位置坐标， 亦称直线定位法。一维定位是声源定位中最简单的方法，多用于焊缝缺陷的定位。一维定位至少要采用两个传感器和单时差， 其原理见图6-80。 ? 　　若声发射波从波源Q到达传感器S1和S2的时间差为Δt，波速为v，则可得下式： |QS1-QS2|=υΔt （6-60） 图6-80 一维定位法 　　2） 二维（平面）定位 　　二维定位至少需要三个传感器和两组时差，但为了得到单一解，一般需要四个传感器和三组时差。传感器阵列可任意选择，但为了运算简便，常采用简单阵列形式， 如三角形、 长方形、正方形、菱形等。近年来，任意三角形阵列及连续多阵列方式也得到了应用。就原理而言，波源的位置均为两组或三组双曲线的交点所确定。  　　由四个传感器构成的菱形阵列平面定位原理见图6-81。 图6-81 二维(平面)定位法 　　若由传感器S1和S3间的时差ΔtX所得的双曲线为l，由传感器S2和S4间的时差ΔtY所得双曲线为2，波源Q离传感器S1和S3，S2和S4的各距离差分别为Lx和Ly，波速为υ，两组传感器间距分别为a和b，那么，波源就位于两条双曲线的交点Q(X，Y)上，其坐标可表示为： （6-61） （6-62） 　3）柱形、球面的定位 　柱面定位是一种常见的定位方式，许多压力容器都是圆柱体，柱面定位实际上是平面定位的一种特例。将一个圆柱面按某一母线剖开就是一个矩形，如图6.82所示，声音在柱面上的传播与在平面上的传播是相似的，只不过需要考虑的是矩形的两边是连接的，图6.82为柱形的剖面AB与CD实际是连接的，声音从S点传到P点后不是反射，而是从P继续向Q传播，因此计算方法上要考虑信号传播AB和BD的接续。 图6.82 柱面定位示意图 　　3） 三维空间定位 　　在现代声发射仪器中开发了三维空间定位的定位软件。这种定位方式主要用于大型物体内部的缺陷监测，如岩体、大坝、 变压器内部放电等。  　　4） 时差定位的局限性 　　时差定位通过对时差、波速、传感器间距参数的测量及复杂的算法运算，可确定波源的坐标或位置，是一种精确而又复杂的定位方式，广泛用于试样和构件的检测。不过，时差定位易丢失大量的低幅度信号，其定位精度又受波速、衰减、波形、 构件形状等许多易变量的影响，因而在实际应用中难以得到满意的结果，也受到种种限制。在复合材料中，特别是在纤维缠绕复合材料中，由于其各向异性， 声波在不同方向上传播的速度不相同，往往不能使用时差定位方法而采用区域定位方法。 6.4.3 声发射检测仪器 　　自20世纪60年代末首台声发射仪问世以来，声发射仪已更新换代多次，它们在结构、功能、数字化程度和价格上均有很大差异。声发射仪一般可分为功能单一的单通道型(或双通道型)、多通道多功能的通用型、全数字化型和工业专用型，其特点与适用范围如表6-2所示。 表6-2 声发射仪的类型、特点与适用范围 　　2) 不规则形状材料和零件探伤 　　适合采用放置式线圈进行检测的，既包括形状复杂的零件， 也包括除管、 棒材以外形状不规则的材料和零件，如板材、 型材等。  　　由于这类材料和零件的形状、结构多种多样，因此放置式线圈的形貌也多种多样。比如要采用涡流方法完成飞机维修手册所规定的全部检查项目，就要配备以下各式探头，包括笔试探头、 钩式探头、 平探头、 孔探头和异形探头等。 　　3． 电导率测量和材质分选 　　电导率的测量是利用涡流电导仪测量出非铁磁性金属的电导率值，而电导率值与金属中所含杂质、材料的热处理状态以及某些材料的硬度、耐腐蚀等性能有关，所以可进行材质的分选。 　　4． 涡流测厚 　　用涡流检测方法可以测量金属基体上的覆层以及金属薄板的厚度，利用的是探头式线圈的提离效应。这一厚度一般在几微米至几百微米的范围。  　　用涡流法测量金属薄板的厚度时，检测线圈既可按反射工作方式布置在被检测薄板的同一侧，也可按透射方式布置在其两侧。但都是根据在测量线圈上测得的感应电压值来推算金属薄板厚度的。 　 　　5． 涡流检测技术的新发展 　　随着工业的发展，对材料、产品检测要求的不断提高， 并由于涡流检测自身的特点，人们逐步认识到常规涡流检测方法的一些局限性，它对解决某些问题显得无能为力。例如高频磁场激励的涡流，由于极强的趋肤效应，使它对更深层缺陷和材料特性的检测受到限制；由于对提离效应敏感，使得检测线圈与被检试件间精确、稳定的耦合十分困难；干扰信号同有用信号混淆在一起，无法分离、辨别；检测易受工件形状限制等。 针对以上这些问题，