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课程设计
采样控制系统仿真实验
姓名:邹晶 学号指导老师:邓萍
实验时间:2010年6月27日--2010年7月8日一、系统分析: 3
1. 绘制碾磨控制系统开环根轨迹图、Bode 图和奈奎斯特图,并判断稳定性; 4
2.当控制器为,试设计一个能满足要求的控制器(要求用根轨迹法和频率响应法进行设计); 7
2.1进行根轨迹校正: 8
2.2频率校正: 12
3.将采样周期取为,试确定与对应的数字控制器(要求用多种方法进行离散化,并进行性能比较); 17
4、5、6:连续,离散单位阶跃输入响应比较 25
6.比较并讨论4和5的仿真结果; 27
7.讨论采样周期的不同选择对系统控制性能的影响; 28
8.如控制器改为PID控制器,请确定满足性能指标的PID控制器参数。 33
8.1用最优PID控制法设计: 33
9.如希望尽可能的缩短系统的调节时间,请设计相对应的最小拍控制器,并画出校正后系统的阶跃响应曲线。 37
9.1采用无纹波最少拍系统设计 37
10.实验小结: 40
一、系统分析:
某工业碾磨系统的开环传递函数为
要求用数字控制器D(z)来改善系统的性能,使得相角裕度大于,调节时间小于1s(2%准则)1. 绘制碾磨控制系统开环根轨迹图、Bode 图和奈奎斯特图,并判断稳定性;
2.当控制器为,试设计一个能满足要求的控制器(要求用根轨迹法和频率响应法进行设计);
3.将采样周期取为,试确定与对应的数字控制器(要求用多种方法进行离散化,并进行性能比较);
4.仿真计算连续闭环系统对单位阶跃输入的响应;
5.仿真计算数据采样系统对单位阶跃输入的响应;
6.比较并讨论4和5的仿真结果;
7.讨论采样周期的不同选择对系统控制性能的影响;
8.如控制器改为PID控制器,请确定满足性能指标的PID控制器参数。
9.如希望尽可能的缩短系统的调节时间,请设计相对应的最小拍控制器,并画出校正后系统的阶跃响应曲线。1. 绘制碾磨控制系统开环根轨迹图、Bode 图和奈奎斯特图,并判断稳定性;
G=zpk([],[0 -5],10);sisotool(G);margin(G);
根轨迹图
Bode图:截止频率为1.88rad/s,相角裕度为69°
N=0;R=0;Z=P-R=0;该系统稳定。
2.当控制器为,试设计一个能满足要求的控制器(要求用根轨迹法和频率响应法进行设计);
调节前
Gs=tf(10,[1 5 0]);
Close_S=feedback(Gs,1);
Step(Close_S,b);
hold on
设计前调节时间为1.18s
设计前截止频率为1.88rad/s,相角裕度为69°(第一问中)
2.1进行根轨迹校正:
要使得根轨迹向左转,要加入零点。考虑到校正装置的物理
可实现性,加入超前校正装置。
由上图确定:a=6.512,b=11.499(上图a表示零点,b表示极点)
检验性能:
Ds=tf(10*[1 6.512],[1 11.499]);
Gs=tf(10,[1 5 0]);
Close_S=feedback(Ds*Gs,1);
Step(Close_S,b);
hold on
调节时间为0.863s,符合要求。
G=zpk([-6.512],[0,-5,-11.499],10);
margin(G);
G=zpk([-6.512],[0,-5,-11.499],100);
margin(G);
相角裕度为48°,符合要求。
2.2频率校正:
详细设计
要求:静态速度误差为20,相角裕度不小于45°,调节时间小于1s(2%)。
A. 根据静态误差指标确定开环增益
B. 据确定的增益 K ,画出如下增益经调整后的未校正系统的Bode图
G=zpk([],[0,-5],100);
margin(G);
校正前的相角裕度为28°
C. 计算为满足设计要求所需增加的相位超前角度
从图可知为满足设计要求,还须25度左右的超前相角。即令
D. 计算
E. 选定最大超前角发生频率
因为校正环节在最大超前相角处有 10log a 的幅值提升,所以把
据式
计算超前环节的时间常数因子 T 和校正环节的交接频率
H. 对以上设计所得进行检验,看是否满足设计要求。
I.性能验证:
Ds=tf(24.638*[1 7.65],[1 18.836]);
Gs=tf(10,[1 5 0]);
Close_S=feedback(Ds*Gs,1);
Step(Close_S,b);
hold on
调节时间为0.573,满足设计要求。
G=zpk([-7.65],[0,-5,-18.836],240.638);
margin(G);
相角裕度为48°,满足设计要求。
3.将采样周期取为,试确定与对应的
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