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GSM上行干扰排查指导书 概述 本文通过三门峡上行干扰排查，对造成上行干扰的原因和排查方法进行总结，指导现场用服人员，合作方督导，维护人员对上行干扰的排查工作。 上行干扰表现及原因 上行干扰判断 上行干扰带是话统中判别上行干扰的一项重要指标。它是利用载频RSSI电平上报这一功能，在空闲时隙上统计机顶口功率电平来判别上行信号受干扰的程度。因为空闲时隙是没有业务的，此时检测到任何电平都可以认为是对有用信号的干扰，这种干扰可能来自网内同频干扰、外界干扰或基站内部的互调干扰等。在无干扰的情况下，上行干扰带的统计等级都为1。 上行干扰带等级的定义如下： 干扰带等级 电平值范围 干扰带1 -110～-100dBm 干扰带2? -100～-95dBm 干扰带3? -95～-90dBm 干扰带4? -90～-85dBm 干扰带5? -85～-47dBm 如下图所示，TRX9和TRX12 4级干扰带占绝大部分，这时即存在上行干扰现象。 上行干扰因素 产生上行干扰的主要原因有： 1）无源互调 2）直放站干扰 3）C网干扰 4）网内同临频干扰 5）载频问题 6）其它外部干扰 其中无源互调属于基站及天馈系统内部干扰，直放站干扰和C网干扰属于外部干扰。 上行干扰原因及排查方法 无源互调 上行干扰最多的就是基站和天馈系统（包括天线）的无源互调。无源互调特性（PIM）是指接头、馈线、天线和滤波器等无源部件在多个载波的大功率信号条件下，由于部件本身存在非线性而引起的互调效应。通常认为无源部件是线性的，但是随着基站功率和载波数的增加，无源部件都不同程度地存在一定的非线性，这种非线性主要是由以下因素引起的：不同材料的金属的接触；相同材料的接触表面不光滑；连接处不紧密；存在磁性物质，器件功率容量不足等。 互调产物会对通信系统产生干扰，特别是落在接收带内的互调产物将对系统的接收性能产生严重影响burst，再统计小区干扰带，如果干扰带有明显上升，比如原先为1，发射后出3级或以上干扰带，则可证明存在上行互调干扰。 这里发送空闲BURST 无源互调排查方案一： 上图为基站系统结构图，基站发射信号通道中的所有无源器件，都可能产生无源互调，包括基站系统中的双双工器DDPU和DDPM；合路单元DCOM和DFCU；室内天馈部分的滤波器，避雷器和下跳线；室外天馈部分的上跳线和天线；馈线等。系统产生的无源互调无法直接判断出是哪一个部件出的问题，只能进行分段排查，排查每一段时观察干扰带变化（比较空闲时隙测试前后频谱）。 在确定存在互调现象后可采用如下排查方法： 步骤－：检查基站设备及天馈系统基本情况 进入机房后，请先检查基站设备及天馈系统的基本情况。 检查载频和空腔的射频连线是否正确； 检查基站空腔发射口的接头、跳线与馈线的接头是否松动；检查利旧部件各个接头是否锈蚀，接头是否存在碎屑等制作不良。 检查部分跳线塑胶表皮是否裂开，跳线和馈线是否弯折过大等。 检查现场是否安装了为了抗C网干扰而添加的滤波器，由于它们自身体积大质量重，且受力不对称，很容易在安装和维护过程中受力过大而损坏，产生互调干扰。各个地方都曾大批发现此类问题。 步骤二：判断互调通路 在S8配置下，一个小区有两个DFCU，每一个连接4路下行信号并输出4路上行信号， 任意一路出现互调都会影响整个小区的上行信号，因此需要判断是哪一路出现互调，连接图如下文档。 判断方法根据是否使用频谱仪分为两种： 使用频谱仪用下面的方法：在进行空闲时隙测试时使用频谱仪分别测试两个DFCU输出的上行信号，根据跨柜和不跨柜分为两种情况。 1、不跨柜模式：取RX5或者RX6口进行测试，若上行信号出现频谱抬升现象则说明存在互调干扰。 2、跨柜模式：取RX1或者RX6进行测试，若RX1输出的上行信号出现频谱抬升现象则说明此通路存在互调干扰，若RX6输出的上行信号出现频谱抬升现象则说明另一个通路存在互调干扰。 不使用频谱仪用下面的方法： 1、不跨柜模式：拔掉任意一个DFCU的RX1~RX4输出端，进行空闲时隙测试，若此时干扰带恶化消失，则此路存在互调；若此时干扰带依旧存在恶化，则另一路存在互调。 2、跨柜模式：将一个DFCU的HL_IN和HL_OUT断开，进行空闲时隙测试，哪个DFCU下的4个载波干扰带发生恶化，说明哪一路存在互调干扰。 步骤三：检查基站设备及天馈系统的连接质量 摇晃各个接头并通过BSC观察干扰带变化。 若此时干扰带出现恶化，则接头处存在连接不良的情况，此时需要重新进行安装或者重做接头；若没有恶化则进行下一步。 步骤四：倒换正常小区和干扰小区的天馈系统 将正常小区和干扰小区的天馈系统从馈线处互相倒换（例如1小区有干扰，3小区正常），发空闲Burst测试； 如果倒换后，干扰固定出现在原来的