一种低功耗测试图形的生成方法.pdfVIP

第 47卷 第 2期 西 安 交 通 大 学 学 报 Vo1．47 NO．2 2013年 2月 JOURNALOFXI’AN JIAOTONG UNIVERSITY Feb．2013 DOI：10．7652／Xjtuxb2O13O2O08 一 种低功耗测试图形的生成方法 张国和，冀丽丽 ，张林林 ，雷绍充 ，梁峰 (西安交通大学电子与信息工程学院，710049，西安) 摘要 ：为解决测试 图形生成 电路功耗 高、硬件开销大、故障检测难等 问题 ，提 出了一种用于内建 自 测试的低功耗测试 图形生成方法。该方法将种子 向量和 SIC计数器生成 向量进 行运算，产生 MSIC测试 向量 。通过设计一种可配置 SIC计数器和种子 生成 电路 ，证 明 了该方法 中任意的 2个 MSIC图形在任何情况下都是相异的。以国际基准测试 电路 ISCAS’89为对 象，在 nangate45nm 工艺上的仿真实验表明，基于该方法的测试生成 电路 的平均功耗 占被测电路正常工作 时平均功耗 的 1 ～3 ；与传统的伪随机测试 生成 电路相 比，该测试 生成 电路的测试功耗 降低 了5．48 ～ 66．86 ，且其所生成的测试图形具有唯一性 、低跳变等特性。 关键词 ：测试图形生成；内建 自测试 ；低功耗 ；低跳变 中图分类号 ：TN407；TP391．7 文献标志码 ：A 文章编号 ：0253—987X(2013)02—0047—06 A LOW PowerTestPatternGenerationM ethod ZHANG Guohe，jILili，ZHANG Linlin，LEIShaochong，LIANG Feng (SchoolofElectronicsandInformationEngineering，Xi’anJiaotongUniversity，Xi’an710049，China) Abstract：A noveltestpatterngeneration methodforbuilt—in—self-test(BIST) isproposed to solvetheproblemsofpower，hardwareoverheadand faultdetection inVLSItest．Thevectors generatedby linearfeedback shiftregister (LFSR)andsingleinputchange (SIC)counterare operatedtogeneratemultiplesingle—inputchange(M SIC)sequences．Then，areconfigurableSIC counterandatestpatterngeneratoraredesignedtoverifytheuniquenessofM SIC testpatterns． SimulationresultswithISCAS’89benchmarksbasedonthenangate45nm processshow thatthe MSIC—TPGcircuitsimposeabout196／—3％poweroverheadoftheCUTs’averageworkingpower． Comparisonswith traditionalpseudorandom testpatternsshow thatthetestpowerdecreases about5．48％一66．86％，andthatthetestpatternsgeneratedbytheproposedmethodhavethe advantagesofuniquenessandm inimum transitions． Keywords：testpatterngeneration；built—in—self-test；low power；low transition 芯片测试成本在集成 电路产业 中所 占比重越来