采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪.pdfVIP

维普资讯 第 33卷 第 12期 高 电 压 技 术 Vo1．33 No．12 · 44 · 2OO7年 12月 H ighVoltageEngineering Dec． 2007 采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪 雷克刚，吴广宁，高 波，何景彦 ，刘 君 (西南交通大学电气工程学院，成都 610031) 摘 要：在多路绝缘介质高压方波寿命试验中，为提高加速老化绝缘寿命试验的效率，设计了监控记录各试验支 路状态的热敏检测绝缘介质寿命记录仪。该仪器通过PTC热敏电阻监测高压回路中限流电阻温度变化提取介质 击穿信号，以单片机 AT89c55为运算控制中心，采用热信号时间差分数字算法处理及控制信号。该方式受 电磁干 扰小，与高压回路无直接 电气连接安全性高。该记录仪 已实际应用 ，可在 1～3S内切除击穿支路 ，击穿时间记录误 差2 ，装置动作时间内因其 限流 电阻作刚能有效保护脉冲电源 。 关键词 ：寿命试验 ；击穿；热敏电阻；检测 ；纪录仪 ；绝缘介质 中图分类号 ：TM934．3 文献标志码 ：A 文章编号 ：1003—6520(2007)12-0044—05 LifeReeorderofDieleetrieBasedonM icr0c0ntr0ller LEIKe—gang。WU Guang—ning，GAO Bo，HEJing—yan，IIUJun (SchoolofElectricalEngineering，SouthwestJiaotongUniversity，Chengdu610031，China) Abstract：A lifetimerecorderisrequiredin theageing lifetestingofdielectricmaterialbecauseparalleltestingof multi—samplesiSallowedwithinlesstimecostingandmoreexactdata．A recorderbasedonthetherma1resistorsiS usedtomonitorandrecordthestateofthedielectricsamplewhichisputintoHV squarewavelifetesting．Thetern— peratureofthelimitingresistorsinstalledinseriesintheHV testcircuitisalmostthesameastheconditionbefore thesamplesarebrokendown．Onceoneofthesampleswasbrokendown，thetemperatureofthelimitingresistor connectedtOthatsamplewillriserapidlyresponding tO thelargeenergy losson it．Whenthethermalresistoris placedneartOthelimitingresistor，thevariationintemperatureofthelimitingresistorwillbedetectedsafelywith— outconnectingHV circuitbythiswayandcanbeusedasthebrokendowncriterionofthedielectricsamples．The temperaturesignalswillbetransferredintoanalogelectricsignalshythethermalresistors，theanalogsignalswillbe transferredintodigitalsignalsbyA／D