液晶显示器LCM模组PFMEA前段分析.xls

失效模式分析 Cover HistData10 HistData11 HistData13 HistData14 HistData15 HistData16 HistData17 HistData18 HistData19 HistData2 HistData21 HistData22 HistData23 HistData24 HistData25 HistData26 HistData27 HistData28 HistData29 HistData3 HistData30 HistData31 HistData32 HistData33 HistData34 HistData35 HistData36 HistData37 HistData38 HistData39 HistData4 HistData5 HistData6 HistData7 HistData8 HistData9 项 目 名 称 PFMEA 编 号 核 准 产品型号 过程责任部门 关 键 日 期 核心小组 编制日期 潜在失效 模式 潜在失效 后果 严重度S 级别 频度O 现行过程控制探测 探测度D 风险顺序数RPN 建 议 措 施 责任及目标完成日期 措 施 结 果 采取的 措 施 严重度 S 投入 光阻涂布 定向 撒布 OVEN ITO膜面放反 UV光失效 涂布不均 气泡 短路 曝光跑位 曝光室污染治具 曝光 玻璃表面碎屑 每日清洁曝光室 DI水污染 去膜 清洗 毛刷刷不到玻璃表面 膜厚不均 上膜跑位 膜缺 破洞 平台不平整 每月定期校正平台平整度 玻璃烤破 玻璃走歪被底座卡住 抖面 定向深 框彩 切裂不良 灌液晶异常 跑位 撒布不均 漏液 框坏 印框 曝光不良 整合异常 上光阻不良 编制 潜 在 的 失 效 模 式 及 后 果 分 析 潜在失效原因/机理 PI涂布 Top涂布 PI固化不均 玻璃有破角 每月定期校正 框色不均 现行过程控制预防 PFMEA 日 期 上Top跑位 Top固烤 Top固化不均 APR版或玻璃被污染 PI固烤 （过程FMEA） 版本：A版 生产﹑工程﹑品管 联系电话 ITO玻璃面电阻值错误 蚀刻不良 来料不良及人为疏失 在玻璃包装上做标识﹐依照规格单选材 IQC来料抽测ITO面电阻 无法蚀刻 作业员将玻璃倒角放反 生产在线标识倒角位置并首件检查 清洗不干净 上光阻脏 每12小时检测DI水电导率，及时更换DI水 清洗液使用超过12h,清洗能力不足 12小时更换1次清洗液 记录换液时间 依不同玻璃厚度调整毛刷高度 高度计量表测试 滤芯失效 依水压表判断并更换失效滤芯 风刀气源污染 每月点检更换油雾分离器滤芯 工程师点检 UV灯每使用3000小时后更换，定时器监控 涂布轮与背压轮间隙不均 每月点检校正原点 间隙仪表监控 依不同玻璃厚度调整间隙(参数已标准化) 起线 断路 涂布轮局部变形 调整涂布轮与背压轮间隙使其充分磨合 目测 光阻剂下滴不畅 调整光阻剂下滴量 堆积 涂补轮刺伤 光阻机前加装传感器﹐防止玻璃迭板通过 涂补轮表面污染 清洗涂补轮 图白﹐断路 光阻剂输送管路进气 对光阻剂输送管路进行排气处理并安装输送管传感器监控 1次/2h巡检 脏 断短路 环境污染涂布轮及光阻剂 光阻涂布区域人员限制为2人 每两周测量环境洁净度 光阻涂布前玻璃清洗不干净 清洗机传送速度以2100mm/min作业并首件检查 1次/2h抽检 在参数范围内放慢清洗机传送速度 预烤 光阻剂预烤不充分 欲断 光阻剂附着力不足﹐造成显影过度 调整烤箱传送速度并首件检查 短路﹐图凸 治具清洁不干净 上线治具清洁干净 用CCD首件检查 PI印刷﹐印框点位置偏移 平台定位PIN动作不到位 产品首检﹐每日点检PIN及其动作 用CCD首件检查及中途抽检 掩膜版刺伤 断路﹐图缺 防止玻璃迭板破损 首件检查及中途抽检 曝光室内治具安装磨擦引起碎屑 治具安装轻拿轻放 治具安装框架加装滚轮﹐减少磨擦 曝光不足或过度 短路﹐断路 光刻胶分解不足或过度分解 调整曝光量(参数已标准化)并用CCD首件检查 显影 显影过度 断路﹐图型失真 光刻胶过多清除 控制显影