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题型格式（客观） 题型 考核要点 参考资料 序号 题目 选项A 选项B 选项C 选项D 答案 解析 判断 对 不对 / A 测试的过程中，審于每种使用的波长,必须建立线限范围的上陀。 ICP-AES?要由光源，分光系统，及观测系统组成 “灵敏线”是指各种元素谱线中最容易激发或激发电位较低的谱线。 由较低能级的激发态直接跃迁至基态时所辐射的谱线称为第一共振线，一般也是元素的最灵敏线。 等离子体是指电离了的但在宏观上呈现电中性的物质。 《等离子体发射光谱分析》 B 《原子吸收光谱仪基础理论培训》 单选 校正空白的制备 与曲线的步骤一致，只是未加标准溶液　 超纯水 DI水 方法空白的控制 小于方法检测限检验样品的5%,小于管制界限的5%,或对于每种分析物，小于最低的样品浓度的5% 小于方法检测限检验样品的10%,小于管制界限的10%,或对于每种分析物，小于最低的样品浓度的10% 全程空白即可 小于方法检测限检验样品的1%,小于管制界限的1%,或对于每种分析物，小于最低的样品浓度的1% 消解后加标的回收率要求 75%-125% 80%-120% 70%-120% 80%-125% 化学干扰产生的原因 包括分子化合物的形成、电离效应和溶液挥发效应 样品的盐度 样品浓度过高 仪器周围有强磁场 方法空白的限值 小于方法检测限的5% 小于方法检测限的10% 小于方法检测限的1% 小于方法检测限的20% 掺料加入产生的浓度至少是方法侦测限度的（ ）,最大为方法侦测限度的（）倍 10;100 10 ；50 5；50 10；1000 优化等离子体的频率 每天 初次安装仪器时或在操作条件变更后才需要 每周 每次仪器关机重启后 什么样品在ICP-OES分析之前不需要消解 含水基体 固体基体 酸化的水样品 土壤样品 C ICP光源的作用 辐射待测元素的特征光谱 激发待测元素发出特征光谱 加热 雾化样品 ICP等离子体工作时的温度分布为： 表层温度高，中心轴线处低 表层温度低，中心轴线处高 表层与中心轴线都高 表层与中心轴线温度均匀 ICP等离子体形成环状的原因： 气流导致 趋肤效应 高温导致 样品雾化导致 不受干扰影响的分析波长 背景校正 替代波长 再次测试 D 影响ICP-OES测试的物理干扰有 高溶解性固体在雾化器顶端产生盐的聚集 样品稀释倍数太大 样品物化速度太快 样品在雾化室内形成了气溶胶 标准加入法 外标法 基体匹配法 内标法 原子吸收光源的作用 吸收待测元素的特征光谱 激发待测元素发出特征光谱 高温雾化 AAS中用到的空心阴极灯的内充气体主要是 氩气 氢气 氧气 乙炔 原子吸收的干扰主要来源于 物理干扰 化学干扰 光谱干扰 基体效应 空心阴极灯的电流选择 在正常范围内，电流越高越好 在正常范围内，电流越低越好 电流的选择与空心阴极灯的使用没有多大关系 视元素情况而定 下列的燃气和助燃气体，在AAS的使用中火焰温度最高的是 氢气-氩气 乙炔－空气 乙炔－氧气 氢气－空气 AAS中撞击球的作用 减小试液的粒度 是试液在雾化室混合均匀 减缓试液的速度，使测试结果更加稳定 出去较大的雾滴，减小试液的干扰 Pb 方法检出限应该每 根据经验建立 一年 半年 两年 季度 在ICP-OES测试中，“如果样品在分析之前被过滤并加酸保存，酸消解是没有必要的”指的是下列那一种样品 电子电器产品 废弃电器产品 地下水 废水 ICP-OES的雾化效率大概在多少左右？ 那种干扰对ICP技术的影响不大？ 化学干扰　 光谱干扰 以上都选 下列那一项不属于ICP测试的光谱干扰？ 连续的或复合现象的背景发射 高浓度元素谱线发射产生的偏离光 其他元素谱线的重叠或分子带状光谱未分解的重叠 易电离元素引起的离子线光谱强度减弱 在使用 方法测试汞时，在分析之前汞被还原成元素的状态。 AAS ICP-OES ICP-MS CVAAS 下列那种标准溶液的配置需要加入高锰酸钾 Cd Hg Cr（Ⅵ） 在ICP-OES测试中,下列 元素对铅220.353nm的干扰最小？ Mo Ni Fe Co 在ICP-MS测试中,下列 元素对镉有干扰？ Cu V Nb 《AA 7000使用说明书》 AAS中，下列哪个部件起到进一步雾化的作用？ 雾化室 预混器 撞击球 雾化器 Na K 引导区 预热区 正常分析区 尾焰 氧 硫 AFS HPLC 磷 下列那一项不属于ICP-OES技术的优点？ 试样消耗少 线性范围宽 光谱干扰小 多元素同时测量 《AA培训资料to user》 基体改进剂对石墨炉测定的影响错误的是 提高分析物能够承受的前处理温度 延长石墨管使用寿命 减小空白吸收 降低样品基体挥发或分解温度 《