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检测技术 第3版 教学课件 作者 施文康 余晓芬 主编 第四章.ppt

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1.核磁法  1)磁矩在外磁场作用下绕外磁场旋进,其旋进角速度为ω=γB0(称为拉莫频率),其中γ为测量介质的旋磁比,对于氢原子核,其值为2.67513×108Hz/T;对于锂原子核,其值为1.039652×108Hz/T。 2)塞曼效应。 3)磁共振现象。 图4-38 质子旋进式 磁强计原理 2.超导量子干涉器 某些物质在温度降到一定数值后,其电阻率突然消失为零,成为超导体。 图4-39 超导隧道 结示意图 3.磁光法 磁光法是利用传光物质在磁场作用下,引起光的振幅、相位或偏振态发生变化进行磁场测量的方法。 磁光法是利用传光物质在磁场作用下,引起光的振幅、相位或偏振态发生变化进行磁场测量的方法。最早用于测量磁场的是1846年法拉第发现的磁光效应:当偏振光通过处于磁场中的传光物质,而且光的传播方向与磁场方向一致时,光的偏振面会发生偏转,其偏转角α与磁感应强度B以及光穿过传光物质的长度l成正比 4.磁致伸缩型 利用紧贴在光纤上的铁磁材料如镍、金属玻璃(非晶态金属)等在磁场中的磁致伸缩效应来测量磁场。 利用紧贴在光纤上的铁磁材料如镍、金属玻璃(非晶态金属)等在磁场中的磁致伸缩效应来测量磁场。当这类铁磁材料在磁场作用下,其长度发生变化时,与它紧贴的光纤会产生纵向应变,使得光纤的折射率和长度发生变化,因而引起光的相位发生变化,这一相位变化可用光学中的干涉仪测得,从而求出被测磁场值。 第六节 材料磁特性测量技术 1.磁化曲线 2.磁滞回线 当铁磁材料的磁化达到饱和之后,如果将磁场减小,则铁磁材料内部的B和H也随之减小。 3.示波器显示B—H曲线的原理和线路 示波器测量B—H曲线的测量电路如图4-42所示。 1.磁化曲线 图4-40 铁磁物质的磁化曲线与磁滞回线 a)磁化曲线和μ—H曲线 b)起始磁化曲线和磁滞回线 2.磁滞回线 当铁磁材料的磁化达到饱和之后,如果将磁场减小,则铁磁材料内部的B和H也随之减小。 1)当H=0时,B≠0,这说明铁磁材料还残留一定值的磁感应强度Br,通常称Br为铁磁物质的剩余感应强度(剩磁)。 2)若要使铁磁物质完全退磁,即B=0,必须加一个反向磁场Hc。 3)图中bc曲线段称为退磁曲线。 4)B的变化始终落后于H的变化,这种现象称为磁滞现象。 5)H的上升与下降到同一数值时,铁磁材料内部的B值并不相同,即磁化过程与铁磁材料过去的磁化经历有关。 6)当从初始状态H=0,B=0开始周期性地改变磁场强度的幅值时,在磁场由弱到强单调增加过程中,可以得到面积由大到小的一簇磁滞回线,如图4-40所示。 7)由于铁磁材料磁化过程的不可逆性及具有剩磁的特点,在测定磁化曲线和磁滞回线时,首先须将铁磁材料预先退磁,以保证外加磁场H=0时,B=0;其次,磁化电流在实验过程中只允许单调增加或减少,不能时增时减。 图4-41 铁磁物质的磁滞回线 3.示波器显示B—H曲线的原理和线路 示波器测量B—H曲线的测量电路如图4-42所示。 图4-42 B—H曲线的测量电路 第五节 磁场测量技术及仪器 一、磁测量技术简介 二、磁感应法测磁 三、霍尔效应法 四、磁阻效应法 五、磁通门法 六、其他磁测量技术简介 一、磁测量技术简介 表4-2 磁测量技术总结表 二、磁感应法测磁 三、霍尔效应法 1.原理简介 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针对性地设计测量或补偿电路。 3.霍尔元件的使用 这里介绍实用中需要注意的几个问题,供读者参考。 1.原理简介 图4-19 霍尔效应原理图 1.原理简介 图4-20 霍尔元件测量电路 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针对性地设计测量或补偿电路。 1)额定激励电流I 它是使在空气中的霍尔器件产生允许温升ΔT的控制电流。 2)输入电阻 它指激励电极间的电阻值。 3)输出电阻 它指霍尔电动势输出极之间的电阻值。 4)乘积灵敏度KH 指单位电流、单位磁感应强度、霍尔电极间空载时(RL=∞)的霍尔电动势。 5)不等位电动势U0与不等位电阻r0 不等位电动势又称零位电动势。 6)霍尔元件的温度特性及其补偿方法 霍尔元件是采用半导体材料制成的,因此其许多参数都具有较大的温度系数。 图4-21 霍尔元件的不等位电动势 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针对性地设计测量或补偿电路。 图4-22 霍尔元件等效电路 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针对性地设计测量或补偿电路。 图4-23 霍尔元件不等位电动势补偿电路 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针对性地设计测量或补偿电路。 图4-24 恒流源温度补偿电路 2.霍尔元件的特性参数 霍尔元件使用时必须了解其特性参数,以便有针

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