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测量系统分析 MSA Measurement Systems Analysis 第三版 上海企航科技咨询有限公司 课程目的 目的：为评定测量系统的质量提供指南。 主要针对能重复读数的测量系统。 学员能力要求：理工科大学(专)毕业，二年工作经验，对“数理统计和概率论”有所了解。 学员职务：产品设计工程师、工艺工程师、生产管理人员、质量检验工程师。 主要内容 测量系统基础术语介绍 统计学知识补充 测量系统的策划 计量型测量系统分析 计数型测量系统分析 测量系统变异性的影响及过度调整 基础术语 测量：赋值(或数)给具体事物以表示它们之间关于特定特性的关系。 量具：任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置；包括通过/不通过装置。 测量系统：是用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合；用来获得测量结果的整个过程。 分辨力(分辨率、可读性)：仪器可以探测到并如实显示的参考值的变化量。 真值：测量对象实际的值，是对象的属性。 测量系统的统计特性 理想的测量系统在每次使用时，应只产生“正确”的测量结果，但遗憾的是，这种理想的测量系统几乎不存在。 我们能做到的是让测量系统满足统计特性，并且统计特性结果是在可接受的范围内。 测量系统的精度应是过程变差和公差带中较小者的1/10。 通过适当的校准程序，测量结果能溯源至国家标准。 测量系统的策划 在设计新的测量系统时应对测量系统进行策划，无论如何，常识是任何情况下的指导。 策划应考虑“测量寿命周期”、测量系统的复杂程度、测量对象的重要性（应充分考虑FMEA）等因素。 采购时应考虑供方、随机文件包、测量系统的验收、预防性维护并制定相关作业指导书。 测量系统策划应由CFT小组共同完成。 “测量系统开发检查表”提供了所需考虑因素的指南。 测量系统的变差 与所有过程相似，测量系统的变差受随机的和系统的变差源影响，即由普通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统的变差： 识别潜在的变差源； 排除(可能时)或监控这些变差源。 变差来源于S(标准)、W(工件)、I(仪器)、P(人/程序)、E(环境)。 QS9000对变差的控制要求 4.11.4 测量系统分析 为分析在各种测量和试验设备系统测量结果中表现的变差，必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划(见)中提及的测量系统。所用的分析方法及接收准则应与“测量系统分析”参考手册相一致(如：偏倚、线性、稳定性、重复性和再现性研究)。如经顾客批准，也可采用其它分析方法及接收准则。 TS16949对变差的控制要求 7.6.1 测量系统分析 为分析各种测量和试验系统测量结果存在的变差，必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划中提出的测量系统。所用的分析方法及接收准则，必须与顾客的测量系统分析参考手册相一致。如果得到顾客的批准，也可采用其他分析方法和接收准则。 测量系统分析的准备 1 计划将要使用的方法。 测量按随机顺序； 读数应估计到可得到的最接近的数字，如果可能，读数应取至最小刻度的一半。 2 评价人数、样品数量、重复读数次数。 评价人应从日常操作和将来要使用这仪器的人选出，并培训其使用相同的方法测量； 样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围； 测量仪器的分辨力应为过程变差和公差较小者的1/10。 测量系统变差的类型 重复性：由同一评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值的变差。 测量系统变差的类型 再现性：由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 重复性和再现性 在实际操作中，往往把重复性和再现性结合在一起分析，称之为Gauge RR。 Gauge RR 的计算工作量较大，常通过电子表格和测量系统分析软件来完成计算。 我们更关心的是输入和输出，即如何收集数据，如何对结果进行分析。 重复性和再现性分析介绍 重复性和再现性-Gauge RR均值-极差法 均值-极差法，有时被称为大样法，是确定测量系统的重复性和再现性的一种数学方法，它允许将测量系统分成两个独立的部分：重复性和再现性。 重复性和再现性-Gauge RR方差分析法（ANOVA） 方差分析法可用来分析测量误差和测量系统分析中数据的其它变异来源。方差分析法将变差分为4种：零件、评价人、零件与评价人的交互作用、量具造成的重复误差。 方差分析法可更精确地估计方差，可从数据中分离更多的信息。 进行研究