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CCD技术研究CTP版材物理显影过程+ 周树云胡秀杰陈萍郑德水 (中吲科学院感光化学研究所，北京，100101) 摘要：本丈使用一维CCD装置，监测了银盐扩散型计算机直接制版体系中的物理 显影过程，主要研究了加工液纽分对显影过程的影响。结果表明，显影液的粘度 越低．银络合剂的络各及扩散能力越强，物理显影的速度就越快。本文证明了 CCD方法用于研究物理显影是可行的。 关键词：CCD，计算机直接制版，物理显影 CCD(ChargeCoupledDevice)电荷藕合器件，烂七十年代初发展起来的新掣、r导体器 件。二十多年来CCD的研究取得r很人的发展，特圳挂住传感器殴计及戍_L}j方面”。‘。与传 度高，动态响应范嗣宽，町在低光强度条什r采集信号，高的空问分辨率以及能实时采集 实验信号等优点，使其n：订‘多领域得刨rJ、泛的府HJ’”“∞。然而CCD在化学中应Hj较 少，清华人学邱勇等_L|{CCD术监测化学发光体系的反府”’，徐景坤等研究}}({相：瓯接制版版 材上的物理显影过程…1。 简化制版过样，缩短制版时问，提高t]lJt4质苗，是当今印刷界的一场技术革命【”。在计算 机直接制版所使州的版材中，毖Ji卤化银扩散转移反转(DiffusionTransferReversal Process，简称DTR)原理的银盐扩散版麻Ⅲ最为J泛㈣。银盐扩救转移的基本原理是：在 显影过程中，负片中曝光的Agx进行化。￥：显影还原成金属银形成负像，术曝光Agx艘络台 剂络合成银络离子，扩散至膨像接受胫(|1．片)住物理显影核的催化F显影成金属银形成 止像。物理显影速率的人小直接影响银影像f!f勺生成质苗。过去研究物理显影过程人多数是 溶液物理显影，所得到的结聚L』实际版利』．显影过稃不完全敛，而对『J扳材物理显影过 程用传统的停显法研究误差{＆人。本艾川ccD卣接规察卤化银CTP版材在显影过程中银影 像的生成以及加l：鲥液纽分对银影像乍成的影响，从而实时、原忙、快速地获得物理显影 过羊!f!的信息。 实验部分 1．实验装置 本系统采川日本的TCDl02C11蛐々维线阵CCD(2048单元)．线状卤钨州为照射光 路与反射光路是截然分开的，2{小l扰。奉实验n液惜处晌光强为12．9lux。 ’困家白然科学培会蚕资助顺U：tgf448002 ；辩氯·毒 redfilter lamp - ’咝6Pc prinIer vessel ccD Ien CRT 斟lCCD装置倒 2．版材和显影液： 实验用版材为自制的铝基剐计算机直接制版材料，敏感波长范周为400--550nm，其结 构如图2所示。在显影过程中，术曝光f×的卤化银被络合荆溶解生成银络离子扩散至影像 接收层，在物理显影核催化作_I}jr显影成黑色的金属银．曝光隧的卤化银经物理显影形成 乙醇胺；显影荆：梦葶二酚：显影促进剂：KOH：保护荆：Na2S03等。 * 光 小山小 小小小 ●一l目化银弱制L ．I一化学“影银 }10i0：：口：；臼：；审；：丘： I!I：-：石‘j由{：-；：-： ·__一物理枉彬钺