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1、N型半导体是在本征半导体中掺入极微量的 五 价元素组成的。这种半导体内的多数载流子为 自由电子 ,少数载流子为 空穴 ,不能移动的杂质离子带 正 电。P型半导体是在本征半导体中掺入极微量的 三 价元素组成的。这种半导体内的多数载流子为 空穴 ,少数载流子为 自由电子 ,不能移动的杂质离子带 负 电。 2、三极管的内部结构是由 发射 区、 基 区、 集电区 区及 发射 结和 集电 结组成的。三极管对外引出的电极分别是 发射 极、 基 极和 集电 极。 3、PN结正向偏置时,外电场的方向与内电场的方向 相反 ,有利于 多数载流子 的 扩散 运动而不利于 少数载流子 的 漂移 ;PN结反向偏置时,外电场的方向与内电场的方向 一致 ,有利于 少子 的 漂移 运动而不利于 多子 的 扩散 ,这种情况下的电流称为 反向饱和 电流。 4、PN结形成的过程中,P型半导体中的多数载流子由 P 向 N 区进行扩散,N型半导体中的多数载流子由 N 向 P 区进行扩散。扩散的结果使它们的交界处建立起一个 空间电荷区 ,其方向由 N 区指向 P 区。 空间电荷区 的建立,对多数载流子的 扩散 起削弱作用,对少子的 漂移 起增强作用,当这两种运动达到动态平衡时, PN结 形成。 5、检测二极管极性时,需用万用表欧姆挡的 R×1K 档位,当检测时表针偏转度较大时,与红表棒相接触的电极是二极管的 阴 极;与黑表棒相接触的电极是二极管的 阳 极。检测二极管好坏时,两表棒位置调换前后万用表指针偏转都很大时,说明二极管已经被 击穿 ;两表棒位置调换前后万用表指针偏转都很小时,说明该二极管已经 绝缘老化不通 。 6、单极型晶体管又称为 场效应(MOS) 管。其导电沟道分有 N 沟道和 P 沟道。 7、稳压管是一种特殊物质制造的 面 接触型 硅晶体 二极管,正常工作应在特性曲线的 反向击穿 区。 8、MOS管在不使用时应避免 栅 极悬空,务必将各电极短接 1、单极型半导体器件是( C )。A、二极管; B、双极型三极管; C、场效应管; D、稳压管。 2、P型半导体是在本征半导体中加入微量的( A )元素构成的。A、三价; B、四价; C、五价; D、六价。 3、稳压二极管的正常工作状态是( C )。 A、导通状态; B、截止状态; C、反向击穿状态; D、任意状态。 4、用万用表检测某二极管时,发现其正、反电阻均约等于1KΩ,说明该二极管( C )。 A、已经击穿; B、完好状态; C、内部老化不通; D、无法判断。 5、PN结两端加正向电压时,其正向电流是( A )而成。 A、多子扩散; B、少子扩散; C、少子漂移; D、多子漂移。 6、测得NPN型三极管上各电极对地电位分别为VE=2.1V,VB=2.8V,VC=4.4V,说明此三极管处在( A )。 A、放大区; B、饱和区; C、截止区; D、反向击穿区。 7、绝缘栅型场效应管的输入电流( C )。A、较大; B、较小; C、为零; D、无法判断。 8、正弦电流经过二极管整流后的波形为( C )。A、矩形方波; B、等腰三角波; C、正弦半波; D、仍为正弦波。9、三极管超过( C )所示极限参数时,必定被损坏。 A、集电极最大允许电流ICM; B、集—射极间反向击穿电压U(BR)CEO; C、集电极最大允许耗散功率PCM; D、管子的电流放大倍数。 10、若使三极管具有电流放大能力,必须满足的外部条件是( C ) A、发射结正偏、集电结正偏B、发射结反偏、集电结反偏;C、发射结正偏、集电结反偏; D、发射结反偏、集电结正偏。 2、已知NPN型三极管的输入—输出特性曲线如图1-36所示,当 (1)UBE=0.7V,UCE=6V,IC=? (2)IB=50μA,UCE=5V,IC=? (3)UCE=6V,UBE从0.7V变到0.75V时,求IB和IC的变化量,此时的(9分) 解:(1)由(a)曲线查得UBE=0.7V时,对应IB=30μA,由(b)曲线查得IC≈3.6mA; (2)由(b)曲线可查得此时IC≈5mA; (3)由输入特性曲线可知,UBE从0.7V变到0.75V的过程中,ΔIB≈30μA,由输出特性曲线可知,ΔIC≈2.4mA,所以β≈2400/30≈80。 1、基本放大电路的三种组态分别是: 共发射极 放大电路、 共集电极 放大电路和 共基极 放大电路。 2、放大电路应遵循的基本原则是: 发射 结正偏; 集电 结反偏。 3、将放大器 输出信号 的全部或部分通过某种方式回送到输入端,这部分信号叫做 反馈 信号。使放大器净输入信号减小

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