半导体集成电路性能检测、老化测试检测标准（科标）.pdfVIP

半导体集成电路性能检测、老化测试检测标准一科标化工分析检测中心 产品/ 领域 检测标准（方法）名称及编号 限制 说 序号 项目/参数 产品类别 代码 （含年号） 范围 明 输入箝位电压 1 VIK 输入高电平电 2 压VIH SJ/T10741-2000 半导体集 半导体集成 3 输入低电平电 22 压VIL 041807 成电路CMOS 电路测试方 电路 法的基本原理。 输入正向阈值 4 电压V + IT 输入负向阈值 5 电压V - IT 输出高电平 6 电压VOH 输出低电平 7 电压VOL 输入高电平 8 电流IIH 输入低电平 9 电流IIL 输出高阻态 SJ/T10741-2000 半导体集 半导体集成 10 时高电平电 22 041807 成电路CMOS 电路测试方 电路 流IOZH 法的基本原理。 输出高阻态 11 时低电平电 流IOZL 12 电源电流IDD 输出短路电 13 流Ios 输出由低电 14 平到高电平 的传输延迟 中心以化工行业技术需求和科技进步为导向，以资源整合、技术共享为基础，分析测试、技术咨询为载 体，致力于搭建产研结合的桥梁。以“专心、专业、专注“为宗旨，致力于实现研究和应用的对接，从而推 动化工行业的发展。 科标化工分析检测中心致力于推动化工产业发展，欢迎各行同仁前来洽谈、合作。