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基于氧化铪的高k栅介质纳米MOSFET栅电流模型.pdf

第26卷 第4期 固体电子学研究与进展 V o l. 26,N o. 4                     2006 年 11 月 R ESEA RCH PRO GR ESS O F SSE N ov. , 2006 纳米物理与器件 基于氧化铪的高 栅介质纳米 栅电流模型 k MO SFET 1, 2 3 1 王 伟  孙建平  顾 宁 (1 东南大学分子与生物分子电子学教育部重点实验室, 南京, 210096) (2 南京邮电大学光电工程学院, 南京, 210003) (3 美国密西根大学电气工程和计算机科学系) 收稿,收改稿 摘要: 运用一种全量子模型研究基于氧化铪的高 栅介质纳米 栅电流, 该方法特别适用于高 栅介 k M O SFET k 质纳米 器件, 还能用于多层高 栅介质纳米 器件。使用该方法研究了基于氧化铪高 介质氮含量等元素 M O S k M O S k 对栅极电流的影响。结果显示, 为最大限度减少M O S 器件的栅电流, 需要优化介质中氮含量、铝含量。 关键词: 高 ; 栅电流; 量子模型 k 中图分类号: TN 386  文献标识码:A   文章编号:(2006) 0443604 - M odeling of Tunneling Curren t Through Hf based D ielectr ic F ilm s for Nanoscale MOSFET 1, 2 3 1 W AN G W ei  SUN J ianp ing  GU N ing

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