干涉显微镜参考本位调制研究.pdfVIP

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第20卷第4期增刊 仪器仪表学报 1999年B月 干涉显微镜的参考相位调制研究。 刘 冲 郭隐彪 (重庆大学机械传动国家重点实验室重庆400044) 张凤生 (青岛大学机电学院青岛266071) 摘要干涉显徽镜可用于超精加工表面的加工质量评定,但是这种方法无法获得表面形貌图,因而难以全面评定表面的加工 质量.本文提出了一种干涉显徽镜的参考相位调制方法,配以CCD摄像机、图像处理系统和微型计算机.可获取超精加工表 面的形貌,并能全面评定表面加工质量。丈中论述了其中的参考相位凋制实现方法,给出了实验结果。 关键调干涉显微镜相位调制轮廓 ResearchonReferencePhaseModulationofInterference Microscope Liu Guo 400044) Chong Yinbiao(ChongqingUniversityChongqing Zhang University 266071) Fengsheng(QingdaoQngdao AbstractInterfercnce isusedtOevaluatethe of surface.Becausethesur— microscope roughness superfinishing faceprofilecannotbeobtainedwiththisinstrument,theevaluationis this methodof incomprehensive.Inpaper,a referencemodulationis forward.ThemethodcanbeusedtOobtainsurface withCCDcamera, phase put profile in referencemodulation and aninterference of imageprocessingmicrocomputer microscope·Thetechnology phase isdiscussed,and resultsare inthe experimentalgiven paper. wordsInterference PhasemodulationProfile Key microscope 次完整的报导了一套波面自动测量系统。在轮廓测量 1引 言 领域,相移干涉技术的应用也很广泛,如:正弦相位调 制干涉仪,测量面振动法外差表面轮廓仪等.其中最具 于涉显微镜是非接触测量仪器

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