N5000材料凹蚀工艺与研究.pdfVIP

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201 孔化与电镀Hole and 3秋季国际PCB技术/信息论坛 ProcessingPlating N5000材料凹蚀工艺研究 Code:A-071 Paper 冷科 张利华 (深南电路有限公司,广东深圳518053) 摘要 文章对N5000材料的凹蚀进行了工艺研究,通过实验评估了玻纤蚀刻时间和等离子除胶 时间的影响,获得了产品厚径比设计为10:l时的批量凹蚀加工方法,解决了这种设计 的产品易发生的凹蚀不够和镀层打折缺陷,满足了N5000材料产品有高厚径比设计时 的凹蚀需求! 关键词 凹蚀;镀层打褶:芯吸 中图分类号:TN41文献标识码:A 文章编号:1009—0096(2013)增刊一0137—06 for ofetchback N5000 Study process KeZHANGLi—hua LENG ThisarticlehasstudiedEtchback forN5000materiel theinfluencefrom Abstract process byevaluating timeand time.Andweobtainthe ofhowtocontrolthemass when glass plasmaetching way production etching the ratiois1 0:1.andwesolvedno etchback and of products’Aspect enough problemplatedcopperdrapeproblem back ofN5000materielwhich ratiois10:1. these theetch processrequirement aspect products,satisfied wordsEtch Permeation Back;Plated Key CopperDrape;Copper J-‘‘’_一 I 刖旨 多层板的孔化工艺分为凹蚀工艺和非凹蚀工艺…,凹蚀工艺需要同时去除环氧树脂和玻璃纤维,使孔壁铜与 内层铜形成可靠的三维结合;两者的结合力大大增强,比非凹蚀工艺的二维结合要更加可靠。因此被广泛的应 用在航空航天和军用线路板中。 虽然凹蚀的三维结构比二维结构的结合力会有所增强,但是如果凹蚀过程控制不当,可靠性反而会比负凹蚀 工艺差,因为如果凹蚀量做得不够时(凹蚀量小于5“m时),三维结构的结合力不会比二维结构的结合力有明显 提升;而凹蚀量过大时,有容易出现凹凸度很大的情况,这时候电镀的孔壁铜容易打折,打折的位置在高温焊接 的条件下极容易断裂;另外也会出现芯吸现象过大的现象,这种情况容易导致密集BGA区域不同的网络间出现电 子迁移诱发短路的问题,可靠性也会下降。因此通常需要将凹蚀量控制在5larn~80lam之间,最佳13“m:而凹凸 度需要控制在50 um以

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