薄膜晶体管液晶显示面板上检测电路及检测方法及研究改进.pdfVIP

薄膜晶体管液晶显示面板上检测电路及检测方法的研究改进 靳增建武汉天马微电子有限公司湖北武汉430074 摘要：在设计和制作显示电路时同时在面板上设计和制作便于后续测试的检测电路，目前的检测电路实现的测试较单一，通过改进集成于面板上的检 测电路，同一治具在同一岗位可以实现两种不同类型的显示检测，可以根据需求灵活增减测试环节，节省检测成本，提高检测效率。 关键词：薄膜晶体管液晶显示器(TFT—LCD)、CELL半成品、COG半成品、检测电路 Thinf-lmtransistor detectioncircuit liquidcrystaldisplaypanel andtestmethodresearchand improved JIN WuhanTianmaMicro—elecfronicsCo．．Ltd．Wuhan／Hubei430074CHN zengjian and thedetectioncircuitfor testswhen and circuitsof inthePanel Abs”act：Designmaking subsequentdesigningmaking display detectioncircuittestis the circuitinthe fixtureatthesame ，current relativelysimple，byimprovingintegrated Panel，Same stationsto twodifferentof onneeds toincreaseordecreasethe costand implement typestests，based flexibility test，save improve efficiency． words：ThinFi|m semi-finished Transistor—Liquid semi-finished，COG Key CrystalDisplay(TFT—LCD)．Cell cirCLJit 前言 耗、轻薄、电磁干扰小等优点，已被广泛应用于移动通信、个人娱乐移动显示终端及工控、车载、医疗显示产品中，已成为平板显示的主流技术，具有广阔的 市场前景。 式多样化和有特定测试需求时，需对绑定COG 以简化，测试成本也可以降低，提高检测效率。 1液晶显示面板现有的测试电路及测试方法 现有的面板测试电路设计，仅在CELL半成品检测时使用，所以在 CELL阶段直接对面板区域的扫描线和数据线输入相应检测信号，观察面 板区域的显示情况以获得检测结果，然而在面板区域进行的CELL检测会 有部分不良无法检测出，因为CELL阶段的驱动与后续MODULE段的驱动 电压、驱动频率和驱动方式不同。 1．1液晶显示面板现有的测试电路 。 液晶显示面板的测试电路是在面板生产过程中利用面板当前的生产 工艺在面板的非显示区域制作，此部分电路在测试阶段使用，在后续正常 使用时可以选择将此部分功能电路关闭或将此电路的部分连接线切断， 图1传统检测电路示意图 避免此部分电路对产品正常使用产生影响。 关于此检测电路业界没有统一的标准，各家的测试电路设计各不相 同，但都大同小异。如图1，此阶段的测试原理和测试方法基本一样；将所 1．2现有的测试方法和局限性 有R、G、B信号通过一个开关(SWI)连接在一起，将所有的Gate或Gate odd、Gateeven信号通过同一开关