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实验1-门电路的逻辑功能及其测试.ppt

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电子技术实验(Ⅱ) 实验一 门电路的逻辑功能及测试 门电路逻辑功能测试 异或门逻辑功能测试 逻辑门传输延迟时间测量 利用与非门控制输出 * * * * 实验内容 实验芯片介绍 实验原理 1、测试门电路逻辑功能 实验操作 与非门的功能测试 H H L H H L L L 电压(V) 3 2 1 实验操作 操作说明 2、异或门逻辑功能测试 实验操作 L L L L 选用74LS86两只按图接线,测量并记录数据: Y B L L H H L H H H H H H H H L 2 H L 5 L L 4 A Y电压(V) 1 L H 3、逻辑门传输时间的测试 实验操作 构成以下电路:输入200KHZ的连续脉冲,用双踪示波器测量输入输出相位差。计算每个门的平均延迟时间的TPD值。 注: 实验原理 平均延迟时间: 平均延迟时间的大小反映了TTL门的开关特性,主要说明门电路的工作速度。 导通延迟时间tPHL-从输入波形上升沿的中点到输出波形下降沿的中点所经历的时间。 截止延迟时间tPLH——从输入波形下降沿的中点到输出波形上升沿的中点所经历的时间。 与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值。一般TTL与非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒~十几个纳秒。 4、利用与非门控制输出 实验操作 用一片7400构成以下电路,S接任何一个电子开关,用示波器观察S对输出脉冲的控制作用,记录波形图。 S=1 S=0 图6-3-6(2)电路 S=1 S=0 图6-3-6(1)电路 分析解释实验结果 输出Y 控制端状态 测试电路 注意事项 每次实验前先检查实验箱电源是否正常,然后选择实验用的集成电路芯片,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc(电源)及GND(地线)不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。 实验目的、内容、画出逻辑电路图。 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号,作为实验接线图。 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果,填好测试数据。分析、确认实验结果的正确性,说明实验结论。 在实验总结中写上实验中遇到的问题,解决办法,体会、建议等,要求简洁、务实,不用套话。 报告要求

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