吸水剖面同位素污染控制研究.pdfVIP

维普资讯 江汉石油学院学报 2002年3月 第 卷 第1期 JournalofJianghan PetroleLlm Illstitute Mar．200Z Vo[24 No1 吸水剖面同位素污染控制研究 王艺景，吴长虹，陈 彬 乔保林，曲丽萍 中‘原鞠田疗公司勘探开发科学研究院，河南濮阳 0口1 [摘要]以濮城油田为研究对象，壬}析 了油田注承同位素污染产生的主要原因是同位素用量问题和吸附污染 与沉淀污染。从水动力学原理出发执出相应的污染解决办法：台理设计同位素周量 对于固水质腐蚀而出现 的吸附污染，尽量采用 “降低比强度法”和 注八零强度微球法”进行控制；对于沉淀污染应根据注入永的矿 化度、流动温度和选用与注入水密度相匹配的同位素徽璩进行控制；并提出了实施过程 中应注意的事项 通 过宴施，可以有教地控制同位亲污染 [关键词]吸水剖面：删井解释；放射性污染；同位素异常；污染防治 [中图分类号]P631．817{TE357．8 [文献标识码1A [文章编号]1000—9752(2002)Ol一0035一o3 吸水剖面测井资料是最主要的动态监测资料之一．它可为油 田开发和方案调整 油井调配、调剖、堵 水、酸化、压裂、补孔新层和调整井投产以及老油田增储上产提供依据。但随着注水时间的增长．同位素污 染现象越来越严重，直接影响资料应用的准确性 。笔者通过总结濮城油田文 51块Es 亚段吸水剖面懈 释结果．从诸多影响因素中找出了影响比较大的同位素用量问题和出现频率 比较高的吸附污染与沉淀污 染问题，并提 出了相应的控制方法。 l 同位素用量控制 1．1 同位素用量不当的表现特征及引起的后果 在同位素强度一定的情况下，用量过大时，测井资料 以非吸水层段和吸水层段都有大面积同位素异常 面积为特征，不但造成同位素的浪费，而且引起污染t还可能引起解释结果的偏差，把不吸水的层当作吸水 层；用量过小时，测井资料以整个吸水层段的同位素异常幅度都特别低为特征，它直接影响解释精度，还可 能把吸水量不大的吸水层误认为不吸水。 1．2 同位素用量设计 为了保证吸水剖面测井时使用的同位素用量合适t在施工 日期、日注水量、油压、测量井段 内的射孔层 厚度、同位素出厂强度、载体规范等 已知的情况下，应按照以下原 则分4步计算同位素用量 。 I)计算吸水指教 I 一Q／(P×H)。式中，j 为吸水指数t m。／(d·m-MPa)；Q为注水量，m。／d；P为注水井的流压与静压之 差，MPa；H 为单井累计射孔层厚度，m。 2)计算每米用量系数 通过中原油 田2000井次吸水剖面测 井资料的调查和筛选，得到各油田区域性同位素用量图版，以濮城 油田为主要研究区块的同位素用量 图版如图I中实线所示。根据 三蕊 图版 回归出每米用量系数 K 的计算公式为 IgK — o．50×Igj — — 1．17。 3)计算同位素强度 S一37×K ×H。式中，37为单位换 图1 稹城等油田同位素用■图版 算系数，1毫居里 一 37MBcl。 ：敷薯 日期]2001～09—14 [I~ -IllYI]i艺景f】956一)女．1980年大学毕业．工程师．珊主要M事生产翊j井解霹研究工作。 维普资讯 江 汉 石 油 学 院 学 报 2002年 3月 4)计算同住素用量体积 V—S×1000／(』×』)，I—I。×e… fi93xt／T)。式中， 为同位素用量，ml； 』为出厂时的放射性浓度 ．MBq／ml；为衰减百分数 ；f为衰减时间，d；7．为所用 同位素半衰期，11．7d 上述计算用量是一个重要的参考值，在下面3种情况下可以适当增减：①对于新转注的注水井，由于 长期的采油或排液，井周围亏空大，应适当增大同位素用量；②对于出砂或者孔隙结构比较松散的注水井， 由于井腔周围可能有大的冲洗带，也应适当增大同位素用量；③对于比较致密的注水井或者是射孔井段 长、厚度大的井，可以适当减少同位素用量 。 2 吸