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测定粉末平均粒度的新方法——投影面积法.pdf
Vol-10N0.1 粉末冶金技术 PowderMetallurgyTechnology
测定粉末平均粒度的新方法
— — 投影面积法
郭 国 湖
(洛阳束 f钔让公司冶炼加工厂.倍阳 471500
摘要 介绍一种通过投影面寰来划定粉末平均粒度的方法。由一束均匀的
平行光通过 已知重量和密度,分布于菠体夼质 中的粉末体,用光电元件检
测其遮光面积,从而计算出粉末的平均粒度。同时舟绍了仪器的结柯。实
验结果表明,投影面积法 的测试结果与费氏法接近 ,并具有较好的重复性。
关键词 粉末粒度 投影面积法
测定粉末体粒度的方法主要有沉降天平
法,光透法及费 氏法。但是由于测试方法的 S=X·(-争) ()
差别,测出的数据往往差别较大。特别是沉
设单个粒子平均体积为 ,则
降天平法和光透法,不仅使用的仪器费用较
高,而且在测试过 程中需 要 引入一些参量
(沉降介质 的粘度,比重、环境温度、时 间 = 詈 (号)
等),配套仪器也比较多,因此在一些小厂
难以得到应用。而费 氏法困所用样品较多, 所 以 x: (2)
dD0
测试时往往须压缩样品,所 以贵金属和易碎
将(2)式代入 (1)式,得
粉末不易测试}有些粉末 (如钨 ,钼粉)则
因难 以找出最佳孔隙度,因此澳试『这类粉末 s—x.㈢
时实验结果的重复性较差。为此,笔者采用
了另一种方法——投影面积法测定粉末体 的
即 = (3)
平均粒度 。
1 投膨面积法的理论基础 式中 w——称样重量,g
与光透法一样,投影面积法也是利用测 d——粉末样品理论密度,g/crgtt
光信号的变化量来测定粉末平均粒度的。但 S——样品总投影面积,cm。
投影面积法只能测出粉末体的平均粒度,不 D——粉末平均粒径,cm
能测定粉末的粒度分布。 根据光 电转换元件的特性,有如下关系
设有重量为w,密度为 d的粒度相近或 式。 A=KC (4)
粒度成正态分布 (实际上,一般的粉末体均 式中 A——光 电转换器输出的电讯号量
接近正态分布)的球状粉末,含有平均粒径 (电流或 电压),A
为D的x个颗粒,总投影面积 (球体颗粒最 K——常数,A/lm
大截面积之和)为s,则 — — 照射到光电元件的 通晕,lm
耕 束 冶 金 技 术 V0I.10
当照射到光电元件 l二的光强度一定时, 表)。若采用 自动平衡记录仪,为保证记录
光通量与透光面棼l成正比。(4)式可 改写 仪示值与光通量成正比关系,硒光电池的复
成l
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