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计算机标准化考试题答案 一、填空 标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近似成[反比 ]关系，这就是著名的[ 莫塞莱 ]定律。 X射线衍射方法有[劳厄法 ]、[转动晶体法（转晶法） ]、[粉晶法 ]和[衍射仪法 ]四种方法。 从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关[晶体结构 ]，多相混合物中各物质的[相对含量 ]等多种信息。 衍射仪的工作方式有[连续扫描 ]和[步进扫描 ]两种。 11.电子显微分析是利用[聚焦电子束 ]与试样物质相互作用产生的[各种物理信号 ]，分析试样物质的[微区形貌 ]、[晶体结构 ]和[化学组成 ]。 14. 透射电子显微镜的结构分为[光学成像 ]系统、[真空 ]系统和[电气 ]系统。 17. 电子探针X射线显微分析（EPMA）是一种[显微 ]分析和[成分 ]分析相结合的微区分析，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。其中常用的X射线谱仪有[波谱仪 ]和[能谱仪 ]两种。 22. 红外光谱图一般都反应四个表象，分别为[谱带的数目]、[吸收带的位置]、[谱带的形状]、[谱带的强度]。 23. 红外吸收光谱图中的横坐标一般标有两种量纲，即[波长]和[波数]，纵坐标则常用[透过率]或[吸光度]表示。 24. 在一般红外光谱图中，所用的红外光波波长都在[中红外区]，更多地用[ 2.5-25μm（400-4000） ]范围，因为绝大多数的有机和无机化合物的分子振动频率处于此波长范围。 二、判断题 连续扫描无滞后及平滑效应，因此衍射峰位正确、分辨率好。[错] 在确定衍射峰位时，切线法适用于线形尖锐的情况。[错] 在进行定性物相分析时，d值的数据比相对强度的数据重要。[对] 用谢乐方程可以计算颗粒尺寸。[错] 12.电子波长与其加速电压平方根成正比，加速电压越高，电子波长越长，电子的能量越小。[错] 13.电磁透镜是一种可变焦距或可变倍数的会聚透镜，这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。[对] 14.弹性散射电子由于其能量等于或接近于入射电子能量E0，因此是透射电镜中成像和衍射的基础。[对] 19.扫描电镜具有场深大（三百倍于光学显微镜）的特点，适用于粗糙表面和断口的分析观察。[对] 20. 扫描电镜试样制备时要进行镀膜处理，其目的是避免在电子束照射下产生点和积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。[对] 21.二次电子像主要反映试样表面的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，图像中凸尖和台阶边缘处二次电子发射最多，亮度最高；平坦部或凹谷发射的二次电子最少，亮度最暗。[对] 22.能谱仪分析的元素范围广（4Be～92U）、探测极限小、分辨率高，适用于精确的定量分析。[错] 三、单项选择题 3. X射线衍射仪的核心部件是[ B ] A. X射线管；B.测角仪；C.探测器；D.高压电源。 9. 分辨率（分辨本领）是电磁透镜的最重要的性能指标，它受到衍射效应、球差、色差和轴上像散等因素的影响，其中衍射效应和[ A ]是最主要的。 A.球差；B.色差；C.轴上像散；D.畸变。 11.无机非金属材料大多数为多相、多组分的非导电材料，直到60年代初产生了[ D ]后，才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。 A.超薄切片方法；B.电解抛光方法；C.化学抛光方法；D.离子轰击减薄方法。 12.适合透射电镜观察的试样是厚度小于[ C ]的对电子束“透明”的试样。 A.50nm；B.100nm；C.200nm；D.500nm。 四、多项选择题 1. X射线衍射分析在无机非金属材料研究中可用于[ ABCD ]。 A.物相分析；B.测定晶格常数；C.判定晶体的对称性和取向；D.测定晶粒大小。 3. 在X射线衍射研究晶体的方法中，用于研究单晶体的方法是[ AB ] A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。 7.在电子与固体物质相互作用中，从试样表面出射的电子有[ ACD ] A.背散射电子；B.透射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。 11.多原子分子的振动模型的基本类型可分为：[A，C] A.伸缩振动；B.扭动；C.弯曲振动；D.摇摆。 12. 伸缩振动的基本类型有：[A，D] A.对称伸缩振动；B.剪式弯曲振动；C.旋转振动；D.非对称伸缩振动。 13. 多原子分子的弯曲振动可分为：[A，B，C，D] A.变形或剪式振动；B.摇摆或面内弯曲；C.摇摆或面外弯曲；D.扭动。 16. 影响红外光谱图中谱带位置的因素有：[A，B，C，D] A.诱导效应；B.键应力；C.氢键；D.物质状态。 17. 影响红外光谱图中谱带强度的因素有：[A，C] A.偶极矩的变化；B.物质的状态；C.能级的跃迁几率；D.键应力。 22. 影响红外分光光度计测量准确度的主要因素