64×64红外焦平面用读出电路测试分析.pdfVIP

一罐| 64×64红外焦平面用读出电路测试分析 “竣喻论诈方葱江磨剖韩建忠 ；毕北光电美卡研宄所．jt象，1000Ij) 讨未L卖出：1』烙的输÷I；性曛，埠声．二0摩，闽值c已每蔓；曼温性能卞I’测试7jH：仑， 关键词：三￡外臻f宣，．妻出c也憋剥试 一．电路功能及设计特点 L 艺i殳计的数碘混合集成哑路。 该电路土要田二人类、八个醭决缉成， 位寄存器。 (2)32*l奇数列CT：A积丹取瞄电路雨㈦2+l数列CT【^积分取样电路 (3)6。l×64MOSFET汗天阵列 主要模块说明如F： t_行扫描移位寄存器车¨奇、偶列行扫描移位寄存器 测器的信号进行积分、放大羊|l采洋，施后在奇、髑列移位寄存器的控制F将并缘素的 采样数据串行输出。 行和列移位寄存嚣肫电路结掏是完全相同的．只是行移位寄存器是64位，而两个 列移位寄存器为02位， 2．奇、偶列CTIA积分取样电路 由行扫描移位寄存器选甲的薄州fr上的红外探删器一生的信号，经CTIA识分取撑 电路单元进行积分、放人Rl取样，砬后在奇．偶别移竹寄存器的控制下将数据串纾输 出。 对应于每～列探测器，配置一个识芳数弹单元。电路平共使用该单元64个。 3． 64×6t’,DSFET开关阵列 该阵列直接与红外探测器阵列相迄，盘行扫描移啦寄存器的控制r，实现对红外 信号的选通．向积分取样电路提供输入信号．并带育电注入；91||试结构。 二工作特点 CMOS汕X r仵特点如F： 右)下工怍。 (2)设有电往入测试控制端口．可以庄绶瑞口加止负测试电压．得到奇、偶列两路输 出的变化情况， (3j可以设置并调1，参考电平refl、re／2。 司 98 红外探涮器的信号。庄行扫描移位寄存器的控制F．实现对开关阵列的选通，向积分』敏样 电路提供输入信号，CTIA积分取样电路单元对该选通行的各列信号分别进行积分、放大和 取样，骢后庄奇、偶剿移位寄存器的控制下顺序将教据串行输出。 三噪声特性分析 l礁声源分折 红外焦平面的唆声源，可分为两人类 瞬态噪声、，空间噤声 瞬态噪声N育三部分来源：|七子噪声，暗电流礞声及凄出电路噪声 读出电路i{勺噪卢水平．是影啊红外焦“面器忭}竺能最重要的因素之一， CMOS电路主要噪声是来自于复位噪声KTC噪声， C为CMOS电路的输出电容 (均方根电子) N。m：(ETC)。2／q=400(C”) 2 CMOSxGX输出噪声特性测试 CMOS 驱动 D8 并A，D米 徽机数 MUX 电路 米评壹分信剥集卡 据采集 常【作状态。 从驱动电路上引出采集所需的场同步信号{FS)，}i同步信号【Hs)，数据同步信号fDSJ． (同步信号均为订L电平)受经过差分放大后的输出信号，分别送至微机中的^，D采集g-． 微机测试系统测量GIOS,,gX器件输出电压的平均值和均方根偏著．r采集帧数≥100)酆 可得到均方根噪声电压值。 用采集测试模块，采集记录64×64 C．、IOSMUX中某一特定行或全帧叩64列的输出 电压