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中国l传统)陶瓷科技发展大会暨中国硅酸盐学会陶瓷分会2007学术年会论文集
BaTi03基多层陶瓷电容器抗还原介质材料的研究进展
齐晓敏 滕元成 陈垄 孙致平
(西南科技大学先进建筑材料四川省重点实验室,绵阳:621010)
摘要
多层陶瓷电容器(MLCC)是一类重要的片式元器件,内电极的贱金属化已成为其产品开发的主流。MLCC内电极贱金属化的
关键技术是获得抗还原性能优异的瓷料,能够与贱金属镍电极实现共烧的BaTiO。基抗还原瓷料的研究是目前MLCC研究的热
点。本文综述了BaTiOs基抗还原介质材料的抗还原机理、制备方法及研究进展。
关键词钛酸钡,多层陶瓷电容器,贱金属内电极,抗还原陶瓷介质
以钛酸钡为基础的铁电陶瓷是使用最多的陶瓷介质
1引言 材料。而常规BaTiO。瓷料在还原性气氛中烧结时易
产生高温失氧而变成半导体,丧失绝缘性能,因此,研
Ceramic 制适应还原性气氛烧结的抗还原BaTiOs基陶瓷介质
Capacitors)
多层陶瓷电容器(Multilayer
又称片式独石电容器,主要适用于片式化表面组装, 材料是Ni内电极MLCC开发的关键[61。
可大大提高电路组装密度,缩小整机体积。这一突出
2
特性使MLCC成为当前世界上用量最大、发展最陕 BaTiO,基陶瓷介质抗还原机理
的一种片式化元件IX],占整个陶瓷电容器市场的50%
以上翻。MLCC技术发展的总体趋势表现在小型化、2.1理论基础
多层化、内电极贱金属化等方面嘲。目前,在实验室条
件下,日本村田公司已研发出介质层厚度lpm层数 B矿处于立方体的顶点上,02。处于立方体的六个面
多达1000层的超微、超大容量的片式Ⅻwc【4l。 心,组成氧八面体,Ti“处于氧八面体中心,周围有6
随着电容器介质材料层数的不断增加,内电极的 个泸,配位数为卵。
面积也将不断的增加。在MLCC的生产中,贵金属内 传统的BaTiOs基介质陶瓷材料在还原气氛下烧
电极Pd占总成本的比例高达35%倜。要想在市场上结时,其性能恶化的根本原因在于:BaTiOs品格中的
具有竞争力,用贱金属Ni电极取代贵金属Pd电极是氧容易逸出而在品格内部留下大量的氧空位缺陷,瓷
—个很好的选择。在制作MLCC的过程中,内电极采体内产生氧离子缺位,该结构为施主结构,电离时产
用Ni电极时,由于Ni金属与陶瓷在高温空气中烧结生施主态正电中心和电子,电离出的自由电子容易被
时Ni电极将被氧化进而扩散到陶瓷介质中,因此,以 TP俘获成为T产,从而使BaTiOs半导化嘲。
Ni作为内电极的MLCC共烧技术必须采用还原性 1 ●●
Oo§}O+Vo+2e (1一1)
气氛,以保证MLCC良好的介电性能。在MLCC中, ●
2.2抗还原机理
中国(传统)陶瓷科技发展大会暨中国硅酸盐学会陶瓷分会2007学术年会论文集
●钡离子
缺陷化学反应式如下:
●钛离子
nM2-1((
3++Nb5+一(Mn,_◆(Mn,Nb)m 1-2))
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