统计技术在ISO：.ppt

10、统计过程控制（SPC）图 几个标准 GB/T 4091-2001 idt ISO8258:1991《常规控制图》 GB/T 17989-2000《控制图 通则和导引》 GB/T4886-2002 idt ISO7873:1993《带警戒限的均值控制图》 11、统计公差法 统计公差法是基于某些统计原理确定公差的方法，它利用各零件相关尺寸的统计分布来确定组装件的总公差。 当给定一系列的独立的公差（它们并不一定相同），对于总体公差的统计计算将得到一个比算术总体公差要小得多的总体尺寸公差。 这意味着，当给定总体尺寸公差的情况下，统计公差法将允许使用比利用算术计算得来的更宽的组件尺寸公差范围。在特定的情况下，这将带来显著的收益，因为生产公差范围更宽的产品在成本和时间上的花费较低。 JB/T 9184-1999 统计尺寸公差 (代替JB/Z 304-87) 11、统计公差法 统计尺寸公差在孔、轴配合中的应用举例： 某孔与轴的基本尺寸为2.5mm，根据产品性能要求，装配后的间隙应在+2.5～+7.5μm内。 若选：孔 φ2.5+0.007+0.004 轴 φ2.5+0.0020 则 最大间隙为Zmax=+7μm 最小间隙为Zmin=+2μm 可满足要求，但孔的公差等级为IT4，轴的公差等级为IT3，加工精度要求高，且由于是批量生产，不便分组装配，可采用统计尺寸公差：若选：孔 φ2.5+0.007+0.004 +0.0065-0.0035 P86% 轴 φ2.5±0.002 ±0.001 P86% 取1-α=95%，查得Kα=1.96，计算可得： 统计最大间隙为Zpmax=+7.3μm 统计最小间隙为Zpmin=+2.7μm 即95%以上的零件可满足要求，而孔的公差等级降为IT6，轴的公差等级为IT5，工艺上较容易实现。 11、统计公差法 统计尺寸公差在尺寸链中的应用： 极限封闭环公差：TOL=T1+T2+……+Tn 平方封闭环公差（理想条件下：正态、无偏、等比、独立）： TOQ=各环公差的均方根 对实际尺寸概率分布的最低要求 1、近似正态分布： TPi:WC=3:1，PCmin=50%，上、下边区的频率不超过25%。 2、近似均匀分布： TPi:WC=2:1，PCmin=50%，上、下边区的频率不超过25%。 3、非对称（倾斜）分布： TPi:WC=3:1，PCmin=75% 或 TPi:WC=2:1，PCmin=50%，因为边区的频率不超过25%，所以有一边不被利用。 11、统计公差法 统计尺寸公差在尺寸链中的应用举例： 电机气隙的确定： ..\..\..\标准集\JBT9184-1999统计尺寸公差.pdf （P24例7） 12、时间序列分析（趋势分析） 时间序列分析是研究按时间顺序收集的一组观测结果的方法，包括： ——绘制时间序列图，通常称为趋势图（描述性统计），Y轴（垂直轴）表示某些所关心的特性，X轴（水平轴）表示时间周期； ——发现“滞后”形态，通过统计找出每一观察结果如何与它前面最接近的观察结果相关联，并在随后的每个滞后周期重复这一活动； ——发现周期性或季节性形态，以了解过去的影响因素如何对将来产生重复影响； ——使用统计工具预测将来的观测结果，或弄清哪些因素在时间序列中对变差的影响最大。 [例]:生产预测 10、统计过程控制（SPC）图 最终达到在过程中只存在偶因而不存在异因。这种状态称为统计控制状态或稳定状态，简称稳态。 稳态是生产过程追求的目标，在稳态下生产，质量特性值有 99.73%落在上下控制界限内；在稳态下生产，不合格品最少，因而生产也是最经济的。 一道工序处于稳态称为稳定工序，每道工序都处于稳态称为稳态生产线,SPC就是通过稳态生产线达到全过程预防。 10、统计过程控制（SPC）图 在现场，把规格作为控制图的控制界限是不对的。规格是用来区分产品合格与不合格，而控制图的控制界限是用来区分偶然波动与异常波动，即区分偶然因素与异常因素的。利用规格界限显示产品质量合格或不合格的图是显示图，现场可以应用显示图，但不能作为控制图来使用。 3σ控制限也称为“行动限” 2σ控制限也称为“警戒限” 10、统计过程控制（SPC）图 控制图的判定准则 判定稳态准则：?? 在点子随机排列的情况下,符合下列各点之一就认为过程处于稳态：?? 1. 连续25个点都在控制界限内。? 2.?连续35个点至多1个点落在控制界限外。?3. 连续100个点至多2个点落在控制界限外。??? 即使在判断稳态的场合,对于界