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掺钇(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3电容器陶瓷抗还原性的研究.pdfVIP

掺钇(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3电容器陶瓷抗还原性的研究.pdf

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维普资讯 掺钇 Ba,Ca Ti,Zr O3电容器陶瓷抗还原性的研究 齐晓敏 ,滕元成 ,陈 垄,曾冲盛 西南科技大学先进建筑材料 四川省重点实验室,四川 绵 阳 621010 摘 要:对掺钇的 Ba,Ca Ti,zoo3 BCTZ 电容器陶瓷进行 了抗还原 Capacitors,MLCC 技术发展的总体趋势[”。为了兼顾 性研 究.研究 了不同摩 尔分数的钇的掺 杂对BCTZ电容器陶瓷 的介 电 大容量和低成本两方面的要求 ,选用贱金属镍 电 性能、显微结构和密度的影响 。结果表 明,随着 Y20 掺杂量的增加 , 极代替钯银 电极成为提高MLCC性价 比的有力措 BCTZ陶瓷的室温介 电常数 、介 质损耗逐渐减 小,居里温度 向低温方 施圆。由于与陶瓷介质材料在高温空气中共烧时Ni 向移动 ,同时绝缘电阻率升 高,BCTZ陶瓷抗还原性能提 高;Y203的掺 入能够促进 BCTZ陶瓷的致密化 ,并有利于抑制BCTZ陶瓷的晶粒生 电极会被氧化进而扩散到陶瓷介质 中,为保证 长 。 MLCC 良好的介电性能,以Ni作为内电极 的MLCC 关键字:钛酸钡:抗还原性 ;钇 ;介 电性能 共烧技术必须采用还原性气氛。在MLCC中,以钛酸 中图分类号 :TM223。TM534 文献标 识码 :A 钡为基础的铁电陶瓷是使用最多的陶瓷介质材料 3_『, 文章编号 :1008—5548 2008 02—0039—04 而常规 BaTiO 瓷料在还原性气氛中烧结时容易高 温失氧而变成半导体丧失绝缘性能,因此 ,研制适应 Reduction—resistantPropertiesof 还原性气氛烧结的抗还原 BaTi0 基 陶瓷介质材料 Ba,Ca Ti,Zr 03CapacitorCeramics 是Ni内电极MLCC开发的关键 。国外研究表明,掺 DopedYttrium 杂适量改性离子 Ca2+.Mg2~,Ni等 且 n Ba /n Ti l 的BaTiO 陶瓷 .在还原性气氛 中烧结可获得较好 的 QiXiaomin,TengYuancheng,ChenKun, 绝缘性[5-8]。本文中选取 Ba,Ca Ti,Zr O 陶瓷作为 ZengChongsheng 抗还原材料基体 ,系统研究了YO 的掺杂量对 SichuanProvinceKeyLabofAdvancedConstructionMaterials n BaO+CaO n/ TiO2+ZrO2 1的BCTZ基 电容器 陶 SouthwestUniversityofScienceandTechnology, 瓷的致密化 、介电性能及材料显微结构的影响.同时 Mianynag621010,China 探讨了Y3在 BCTZ陶瓷中可能的抗还原掺杂机制。 Abstract:Thereduction—resistnatpropertiesofYdoped Ba,Ca Ti, Zr O3 BCTZ ceramicswasinvestigated.Theinfluenceofdifferentmolar fractionofsubstitutionconcentrationondielectricproperties,microsturc— 1 实验 tureanddensificationwasstudied Theresultsshowedthatwim thein. creaseofY203ma ounttheroom—temperaturedielectricconstna tnadloss 1.1 样品制备 decreased,htecurietemperatureofBCTZceramicswasshiftedtolower 采用 分 析 纯 试 剂 BaCO3、CaCO3、Ti02、ZrO2、 temperatureandtheresulationresistiviyt increaseegradually, sohtere— YO 为主要原料 ,总结 国内外 已有成果9_『l0],结合前 duction—resistnatpropertiesofBCTZcerma icswasimprovedalot.The densificationiseffectivelyacceleratednadhtergainrgowthisrestrained 期 的探 索 研 究 .确 定 本 研 究 的基 料 配 方 为 byaddingYzO3. [ BanCa叫 O]】l01[Tin85Zr05]O2。Y203的掺杂量分别为 Key words:braium titna ate;reduction—resistnat;yttrium

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