超微颗粒的粒度分布测量.pdfVIP

第 9卷 第 3期 中 国 粉 体 技 术 Vo1．9N0．3 2003年 6月 ChinaPowderScienceandTemlmology June 2003 ： ： ： 0 ： ：卫：冀 ： ：j： ： ： ：^： ： ：j0 ：0 ：。：j：”： 瑟 萎0饕 鼙要： 嚣 嚣鹾蓬瓣 鹭饕 鹭黎簧 鹫蕊 强：置 ：建 ：置： ：卫 ：置 ：：五 0 ：：：^：』：．： -j 叠 盘． 叠， ．登 §f．。童 e鱼． 一。 。童 ．鱼． ，叠。 。受，受．。Se ．。S s 鱼． 叠esf 一”善《。 。s、 叠n囊 n 胡荣泽 (钢铁研究总院，北京 l0o081) 微粒，由于晶面取 向随机 ，在暗场像上呈现出“分散” l 粒度分布测量方法一览表 过似的单个超微粒图像 (如图1)。 首先给出各种超微粉粒度分布测定方法 (表 文献和我们测量 20余种超微颗粒的实验都表 1)，简单比较它们各 自的特点。 明，除了无定形的外，其余都是单晶的。 对 10脚 光栅，张角 0．O017rad，相当于 0．1。， 2 几种测量方法介绍 因此对于 180。的环，仅有 1／1800的颗粒 出现于暗 2．1 一次粒度测量法(电镜暗场法) 场，颗粒相重的几率很小，约 5／10000。 现有超微粉粒度分析方法得到的粒度值介于一 2．2 光子相关谱 次粒度或二次粒度值间，或是二次粒度值 。我们应 其工作原理为：颗粒在溶液中受到液体分子碰撞 用电镜暗场技术结合 TV图像分析，得到测量一次 做随机的布朗运动，使得散射光信号不再保持恒定， 粒度的实验方法。 而围绕某一平均值随时间不断地起伏。颗粒越小，这 暗场技术 中采用围环的方式，即围住一个或数 种起伏越快；反之，起伏较慢。通过相关技术，由散射 个电子衍射环的一部分，仅允许满足某个或某些特 光信号的起伏求得颗粒的平移扩散系数D下，再 由 定布拉格角的衍射束通过光栅，那么团聚的单晶超 S 一Einstein公式求得颗粒的当量直径 。 裹 1 超徽粉粒度分布舅量方法一览裹 收稿 日期 ：2002—12—02 图1 暗场和明场的颗粒像比较 (T．N—Ni粉) 对单分散系统，计算比较容易，由光强 自相关试 式中 K 是波尔兹曼常数；叩是介质粘度 ；T是温 验可求 出衰减线宽 I1 度。 G(r)=1+exp(一2n) 对多分散系统 ，必须加和 ，计算 比较复杂 式中 G(r)是随时间 r变化 的 自相关函数 ；I1= G(r)=J。G(I1)[1+exp(一2n)]dI1 圈 DTq(q=翌sin导；0是入射光真空中波长； 式中 G(r)dr是衰减线宽为I1的颗粒散射光强 的份额