X射线衍射仪样品测试架的改进.pdfVIP

维普资讯 第 4O卷第 i1期 理化检验一物理分册 Vo1．：10 N0．1l PI~A (PARFA：PHYSICAL TESTING) NOV．2004 2004年 i1月 X射线衍射仪样品测试架的改进 刘秋朝 ，朱 骏 ，陈小兵 (扬州大学 物理科学与技术学院，扬州225002) 摘 要：通过对 X射线衍射仪样品架的改进 ，使尺寸过大或过小的样品的X射线衍射谱的测量 更加方便与准确。对于小尺寸块状样品或薄膜样品，采用在样品背面加橡皮泥，用玻璃片压在铝制 样品架上的方法固定；而通过裁剪铝制样品架，使大尺寸样品可方便地 固定和测量。 关键词：X射线衍射仪 ；样品架；改选方法 中图分类号：TH74 文献标识码：A 文章编号：1001—4012(2004)11—0583—02 IMPROVEMENT OFTHE SPECIMEN PLATEF()R X—RAYDIFFRACTION MEASUREMENT LIUQiu-ehao，ZHUJun，CHENXiao-bing (CoilegeofPhysi．csScienceandTechnology，YangzhouUniversity，Yangzhou225002，China) Abstract：TheX—raypatternmeasuringonthespecimenwithlargerOrsmallersizebecomeeasyandexact aftertheimprovementofthespecimenplates．Theblocksampleorthinfilm canbefixedinspecimenAI—platewith anyDlasticeneonthebackofthesampleorfilm．Thesamplewithlargersizecanbeeasilyfixedandmeasuredwith theaidofcuttingthespecimenA1一plate． Keywords：X-raydiffractioninstrument；Specimenplate；Improvementmethod 1 引言 2 小尺寸块状样品的测量 X射线衍射技术已广泛用于晶体结构分析、晶 一 般对块状样品进行 X射线衍射测量时，都是 格常数计算，以及薄膜厚度测定、晶粒大小测量和宏 用橡皮泥将样品贴在一铝制样品架上，样品架厚度 观内应力测量等，成为物理学、化学、材料科学、地质 为 1．5ram，见图 1。铝制样品架上部有 18mm× 以及生物学等许多领域必不可少的测量与分析手 20ram的矩形空洞用来安装样品，所以一般样品要 段[卜 。 略小于这个尺寸。同时要求橡皮泥只能在样品两 一 般的X射线衍射仪可以用来测量粉末样品 侧，不能与样品的被测面在同一平面上。因为在 X 与块状样品。对粉末样 品进行测量时，只需样 品的 射线的照射下，橡皮泥也产生衍射，与被测样品的X 粒径在 5fire左右，样品的量足够即可。而测量块状 射线衍射峰产生重叠。 样品时，则对样品的尺寸有一定的限制。笔者对样 橡皮泥 铝制样品架 品测试架进行了改进，使之可以适合