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两种激光器温度控制方法的比较,激光器精确温度控制,激光器工作温度,激光器温度过高,半导体激光器测试方法,单片机控制激光器,激光器控制,激光器控制方式,激光器控制电路,温度控制器接线方法
科技信息 高校理科研究
两种激光器温度控制方法的比较
中国民航飞行学院计算机学院 余新鹏 电子科技大学光电信息学院 周建华
[摘 要]温度对半导体激光器的特性有很大的影响,在要求半导体激光器输出波长稳定的情况下,必须对其温度进行高精度控制,
因此,对半导体激光器的温度控制技术的研究有重要的意义。采用半导体制冷器实现对激光器温度控制是一种常用的方法,本文对
该方法的两种改进型温控系统进行了比较,得出了相关结论。
[关键词]半导体激光器 温度控制 半导体制冷器
半导体激光器(LD)具有体积小、重量轻、结构简单、寿命长、易于调
制等特性,因而被广泛应用于通信、军事、医疗等领域。但是LD 的输出 Temperature ∑ PTD Amplitude limet TEC
sensor processsor amplifier VCCS
波长与温度有很大的关系,当LD 内部温度增加时,输出波长随之增加。
Current 1
另外,LD 的输出功率受温度影响也相当严重。 目前LD 多数以组件 source
Voltage
LDM 的形式生产和封装。在组件内部常集成LD 芯片、光电二极管 reference
VCCS
[1]
(PD)、热电制冷器(TEC)、热敏电阻 。组件已经考虑到LD 的温度控制
[2- 3] Setpoint input Digit display
问题,其温控技术性能 还不能很好地满足需求。因此,对LD 的内部温
度进行严格的控制非常重要。
一、温度与纵模谱关系 图3 TEC 双向电流制冷温控原理图
因有源层材料的禁带宽度随温度增加而变窄,致使输出波长发生 分析表明,衰减系数是优化PD 参数的关键。衰减系数取值在0.6:0.8
[4]
改变,如图1 所示为一种典型的半导体激光器的温度与纵模谱的关系 。 之间时,系统的响应能在较短的时间内趋于稳定。而实验中限幅电路采
用软限幅设计,增益随输入信号的增加而减小,好处在于既可以防止衰
T=30 ℃ 50℃ 70℃ 90℃
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