基于粒子群算法的时序电路测试生成.pdf

第20卷第1期 电子测量与仪器学报 场Z．20Ⅳo．1 JOURNALOFELECTRoNlC · 6 · MEAsUREMENTANDINsTRUMENT 2006年2月 基于粒子群算法的时序电路测试生成 许川佩1’2 李 智2 莫 玮2 (1．西安电子科技大学机电工程学院，西安710071； 2．桂林电子工业学院电子工程系，桂林541004) 摘要：本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，构造测试生成的粒 子表达方式，建立自动测试生成离散粒子群速度一位置模型，通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜 索。针对国际标准时序电路的验证结果表明，与同类算法相比，该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。 关键词：粒子群算法，自动测试生成，时序电路 AutomaticTestPatternGenerationBasedon ParticleSwarm for Circuits OptimizationAlgorithmSequential Xu LiZhi2MoWei2 Chuanpeil·2 ofMechano-Electronic (1．School University，Xian710071，China； Engineering，Xidian ofElectronic 541004，China) 2．Dept．ofElectronicEnganeering，GuiLinUniversity Technology，Guilin discussedtheresultsachieved swarm toautomatic Abstract：This paper byapplyingparticle optimizationalgorithm test of thecharacteristicsof circuitsand patterngenerationsequentialcircuits．Bycombimng sequential constructingpar— the modelofdiscrete swann forau— ticle oftest madespeed—position particle optimization expressiongeneration，thepaper tomatictest searchis theswanTl from and generation．Theoptimized guidedby intelligentgeneratedcooperationcompeti- tion ofswaFln．The resultsforbenchmarkcircuitsshowthatthe Can amongparticles experimental proposedalgorithm achieve fault andmore testsetswhe