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第 卷第 期 扬州大学学报（自然科学版） 3 1 Vol.3No.1 年 月 （ ） 2000 2 JOURNALOFYANGZHOU UNIVERSITY NATURALSCIENCEEDITION Feb.2000 ============================================================= 基于规范化描述的微处理器功能测试 龚茂康1 宋 琦2 （ 扬州大学工学院电子科学与工程系，江苏扬州， ； 1. 225009 扬州大学工学院计算机科学与工程系，江苏扬州， ） 2. 225009 摘 要：基于规范化描述，提出了对微处理器进行功能测试的一种方法，给出了实现和结论 对各种复杂数 . 字系统测试有一定的理论和实用价值. 关键词：微处理机；控制器；功能；测试 中图法分类号： ； 文献标识码： 文章编号： （ ） TP332.3 TP306 A 1007 824X 200001 0075 04 微处理器（ ）的功能测试，因其引脚有限、功能越来越强大而变得很具有挑战性 从我国生产和 MP . 使用 的现状来看， 并非计算机系统的最薄弱环节，但从发展民族的微电子工业、 技术在我 MP MP ASCI ［］ 国日趋流行的大局考虑 1 ，研究并借鉴最为复杂的 IC-MP的功能测试方法，仍具有理论和现实的意义. 1 MP功能的微指令规范化描述 ［］ 根据 层次设计 的方法学 2 ， 内部模块主要包括控制器、 和寄存器阵列，控制器和 IC MP RALU ［］ 内部也都具有模块化结构 3 同时由于任何一个 指令系统的指令编码均有一定规律，每条 RALU . MP 指令的执行都是在一定数量时钟同步下，通过一系列内部和对外部的操作来完成的，因此用寄存器级硬 ［］ 件描述语言来描述整个指令系统进而反映 MP功能是合适的 4 . 定义 1.1 微操作是使 MP内部状态改变的由时钟同步的最小操作. 内部的状态是指其控制器的状态、 的状态（即数据）、内部 的状态（即数据）的组 MP RALU RAM 合 微操作的具体内容，对 来说不应是十分复杂的运算，而只可能是数据在两个寄存器间的直 . RALU