基于重复子向量的测试数据压缩算法.pdf

第30卷第2期 仪 器 仪 表 学 报 V01．30No．2 2009年2月 ChineseJournalofScientific；Instrument Feb．2009 基于重复子向量的测试数据压缩算法 俞洋，彭喜元，张毅刚 (哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 哈尔滨 150001) 摘要：随着微电子技术的快速发展，系统芯片SoC的集成度越来越高，所需的测试数据量成几何级数增长。针对这一问题． 本文提f{j了一种有效的测试数据压缩算法——基于重复子向培的测试数据压缩算法。该算法适用于多手1描链设计的IP芯核， 应用过程中不需要芯核内部结构信息。该方法针对测试集巾大量存在的重复子向馈进行压缩，能够有效提高压缩效率。理论 分析和实验数据表明，基丁重复子向量的测试数据压缩算法相对于同类压缩方法能够大幅度提高压缩效率、降低测试成本。 关键词：重复子向量；测试压缩；s0C 中图分类号：TP391．76文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．3010 Testdata methodfor scanchainsbasedon compressionmultiple sub-vectors repeated Yu Yang，PengXiyuan，ZhangYigang Testand Automatic Control，Harbin胁m以e (Dept．of ofTechnology，Harbin150001，China) Abstract：Theof grown withthe of complexitysystem—on—a—chip(SoC)hasrapidly development makesthetestdataofSoC aneffectivetestdatatom— technology，which increasingdramatically．Thispaperpresents for scanchains atthe ofexcessive sub—vectorsintestsets．This pressionalgorithmmultiple aiming program repeated methodissuitableforIPcoreswith scanchainsanddoesnot thedetailinformationofthecircuits． multiple require Theoreticaland resultshowthatthe testdata methodbasedon analysisexperiment proposed compression repeated withother sub—vectorscan a ratio recent providehighercompressioncompared compression canfurtherreducetheSoCtestcost．，．．．—． Key sub—vector；testcompression；SoC words：repeated 数据进行编码压缩，然后南芯片内置的解码