基于馈通电压自动补偿的 OLED 电性能测试波形设计研究.pdf

第 卷 第 期 液晶与显示 ３０ 　 ２ 　　 Vol．３０　No．２ 　 　　　　 　　　　　　Chinese Journal of Li uid Cr stals and Dis la s 年 月 q y p y ２０１５ ４ 　 　 　 A r．２０１５p 文章编号: ( ) １００７-２７８０ ２０１５ ０２-０２９６-０４ 基于馈通电压自动补偿的OLED 电性能 测试波形设计研究 １ ２ １ １ , , , 刘志军 侯红兵 李金泰 詹家豪 ( , ; １．广州航海学院 船舶工程系 广东 广州 ５１０７２５ , ) ２．惠州市仲恺高新技术投资控股有限公司 广东 惠州 ５１６００６ : , , , 摘要 常规馈通电压计算原理涉及到 OLED体的电容值 不同型号 OLED产品电容值是个变量 为了得到最佳的电容值 . OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验 本文直接通过栅极电压上拉使 OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿 栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄 , 生电容产生的馈通电压 无需测量 OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压 . , 关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压 实验结果表明 基于馈通电压自动补偿原理设计的Shortin Bar Test g , . 与 人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致 而对不同缺陷的检测率有微小差异 Waveform Vcom : ; ; ; 关 键 词 电性能测试 波形测试 电压补偿 　 　 OLED 中图分类号: ＋ 文献标识码: : / TN３２１ ．５　　 A　　doi １０．３７８８ YJYX０２９６ Desi n ofOLED shortin bar testin waveform based ong g g feed throu h volta e com ensatio