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GTO的关断机理: 在SCR的双晶体管等效模型中,利用门极负电流分流IC1,并快速抽取V2管发射结两侧存储的大量载流子,以实现快速关断。 在工艺结构上比SCR有两点改进: 等效晶体管的电流放大倍数减小,经正反馈导通后接近临界饱和状态,有利于减小关断时间和提高开关频率。 采用多GTO单元并联集成结构,门极和阴极间隔排列,使P2基区载流子均匀快速地从门极抽出,也不易造成局部过热,di/dt耐量增大。 GTO的动态特性 开通过程: 需要经过延迟时间td和上升时间tr。开通时iG为正脉冲,触发导通后门极电流可以撤除。 关断过程: 从iG的负脉冲开始分为三段,需要经历抽取饱和导通时储存的大量载流子的时间——储存时间ts,从而使等效晶体管退出饱和状态;然后则是等效晶体管从饱和区退至放大区,阳极电流逐渐减小时间——下降时间tf;最后还有残存载流子复合所需时间——尾部时间tt。 通常tf比ts小得多,而tt比ts要长,即tftstt。门极负脉冲电流幅值越大,前沿越陡,抽走储存载流子的速度越快,ts就越短。使门极负脉冲的后沿缓慢衰减,在tt阶段仍能保持适当的负电压,则可以缩短尾部时间。 GTO的主要参数 最大可关断阳极电流IATO 即额定电流。而普通晶闸管用通态平均电流来标称其额定电流。 电流关断增益?off 最大可关断阳极电流与门极负脉冲电流最大值IGM之比称为电流关断增益,即 ?off=IATO/IGM 。?off一般很小,只有5左右,这是GTO的一个主要缺点。比如,一个1000A的GTO,关断时门极负脉冲电流的峰值要200A,这是一个相当大的数值。 开通时间ton 一般较短,约数?s 关断时间toff 关断时间一般比开通时间ton长许多。 GTO的主要优缺点: 优点:电压电流容量大(比SCR略小);开关速度比SCR高得多。 缺点:关断电流增益小,门极负脉冲电流大,驱动较困难;通态压降较大。 不少GTO都制造成逆导型,无反向阻断能力。当需要承受反向电压时,应和电力二极管串联使用。 GTO的许多性能虽然与绝缘栅双极型晶体管、电力场效应晶体管相比要差,但其电压、电流容量较大,与普通晶闸管接近,因而在兆瓦级以上的大功率场合仍有较多的应用。 §7.2 电力晶体管(Giant Transistor—GTR) GTR是一种耐高电压、大电流的双极结型晶体管(Bipolar Junction Transistor——BJT)。电流驱动型全控器件 。 GTR的结构:GTR通常采用多单元并联集成工艺的达林顿(Darlington)复合结构,电流放大系数?值较高。单管GTR的?值较小,通常为10左右,采用达林顿复合接法可以有效地增大电流增益。比如两级复合的达林顿管,?=?1·?2。 达林顿复合使饱和导通压降增加。二重复合GTR的导通压降为: 单管临界饱和压降约为0.7~1V,则二重复合GTR的UCES大致为1.4~2V。三重复合时可达2~3V。导通压降的升高会使GTR的通态损耗大为增加。 GTR模块:为了改善GTR的性能,方便使用和提高可靠性,将多级复合达林顿GTR与必要的外围电阻和二极管集成在一起,构成电力晶体管模块(GTR Module),集成管芯与管壳散热板之间充满导热硅胶,但与外壳绝缘。 R2为泄漏电阻,为V2管的集电极与发射极之间的漏电流ICEO2提供分流通路,使得在IB2=0、V2截止时,V1对ICEO2的放大作用减弱,从而使ICEO1及整体复合管的ICEO明显减小,提高其温度稳定性。 在晶体管处于关断过程和断态时,R1、R2分别为两个发射结提供低阻回路,保证GTR的可靠阻断和提高工作稳定性,减小外部干扰影响。 VD2在GTR关断过程中为V1管的基区载流子的抽取提供通路,提高其关断速度,因为在关断GTR时需要驱动电路为两管提供负偏压作用于两个发射结,形成负向基流,以便快速抽出发射结两侧的存储电荷。 VD1是GTR的逆导二极管,逆导开关在电力变换电路中很常用。 VD1、VD2均应为快恢复开关二极管,实际工艺中与R1、R2及V1、V2制作在同一硅片上。 GTR的基本特性及控制方式 静态输出特性与普通三极管一样分为三个区。 在导通期间基极电流保持正脉冲Ib1直至关断, 开关速度比GTO快,但电压电流容量比GTO小。 主要参数 最高工作电压 GTR的击穿电压不仅和晶体管本身的特性有关,还与外电路的接法有关。5种击穿电压之间的关系为:BUcbo BUcex BUces BUcer BUceo。 其中BUces 和BUcex为b-e间短路和反向偏置时c-e间的击穿电压。 集电极最大允许电流IcM 通常规定?值下降到规定值的1/2~1/3时,所对应的Ic为集电极最大允许电流。实用时要留有一半左
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