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半导体发光二极管测试方法 摘要 　　系统地介绍了与发光二极管测试有关的术语和定义,在此基础上,详细介绍了测试方法和测试装置的要求。 1 前 言 　　半导体发光二极管是一种重要的光电子器件,它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用.发光二极管虽小,但要 准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事.目前在世界范围内的测试比对还有较大的差异.鉴于此,CIE(国际照明委员会) TC2-34小组对此进行了研究,所提出的技术报告形成了CIE127-1997文件. 　　中国光学光电子行业协会光电器件专业分会根据国内及行业内部的实际情况,初步制定了行业标准发光二极管测试方法 ,2002年起在行业内部试行.本文叙述了与发光二极管测试有关的术语和定义,在此基础上,详细介绍了测试方法和测试装置 的要求,以期收到抛砖引玉之效果. 　　本文涉及的测试方法适用于紫外/可见光/红外发光二极管及其组件,其芯片测试可以参照进行。 2 术语和定义 　　 2.1发光二极管 LED 　　除半导体激光器外，当电流激励时能发射光学辐射的半导体二极管。严格地讲，术语LED应该仅应用于发射可见光的二 极管；发射近红外辐射的二极管叫红外发光二极管（IRED,Infrared Emitting Diode）；发射峰值波长在可见光短波限附近， 由部份紫外辐射的二极管称为紫外发光二极管；但是习惯上把上述三种半导体二极管统称为发光二极管。 　　 2.2光轴 Optical axis 　　最大发光（或辐射）强度方向中心线。 　　 2.3正向电压VF Forward voltage 　　通过发光二极管的正向电流为确定值时，在两极间产生的电压降。 　　 2.4反向电流IR Reverse current 　　加在发光二极管两端的反向电压为确定值时，流过发光二极管的电流。 　　 2.5反向电压VR Reverse voltage 　　被测LED 器件通过的反向电流为确定值时，在两极间所产生的电压降。 　　 2.6总电容C Capacitance 　　在规定正向偏压和规定频率下，发光二极管两端的电容。 　　 2.7开关时间 Switching time 　　涉及以下概念的最低和最高规定值是10％和90％，除非特别注明。 　　 2.7.1开启延迟时间td(on) Turn-on delay time 　　输入脉冲前沿最低规定值到输出脉冲前沿最低规定值之间的时间间隔。 　　 2.7.2上升时间tr Rise time 　　输出脉冲前沿最低规定值到最高规定值之间的时间间隔。 　　 2.7.3开启时间ton Turn-on time 　　器件所加输入脉冲前沿的最低规定值到输出脉冲前沿最高规定值之间的时间间隔。 t = t +t on d(on) r 　　 2.7.4关闭延迟时间td(off) Turn-off delay time 　　器件所加输入脉冲后沿的最高规定值到输出脉冲后沿最高规定值之间的时间间隔。 　　 2.7.5下降时间t Fall time f 　　输出脉冲后沿最高规定值到最低规定值之间的时间间隔（见图1）。 图1 开关时间 延迟时间 　　 2.7.6关闭时间t Turn-off time off 　　器件所加输入脉冲后沿的最低规定值到输出脉冲后沿最低规定值之间的时间间隔。 t =t +t off d(off) f 　　 2.8光通量Φ Luminous flux v 　　通过发光二极管的正向电流为规定值时，器件光学窗口发射的光