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数字电路实验常识 一、数字电路实验的一般要求 用示波器观测波形（1） 打开示波器，预热 调节【INTENSITY】【 FOCUS】 将待测信号引入示波器的Y1通道输入 调整垂直（Y轴）系统 按所使用的输入通道置【MODE】 根据输入信号性质置【AC-GND-DC】 调节【POSITION】 调节【VOLTS/DIV】确认微调旋钮置顺时针最大（至CAL位置） 调整水平（X轴）系统 将 “SWEEP MODEL”置成【AUTO】 调节【POSITION】 调节【SECS/DIV】确认微调旋钮置顺时针最大（至CAL位置）确认【PUSH*5MAG】【PUSH*10】都弹开 波形水平晃动时，调节“HORIZONTAL”的【LEVEL】 * * 实验是数字电路课程重要的教学环节，通过实验不仅能巩固和加深理解所学的数字电子技术知识，更重要的是在建立科学实证思维方面，在掌握基本的测试手段和方法上，在电平检测，波形测绘、数据处理方面，为学生毕业后的岗位工作起到打基础的作用。尽管各个实验的目的和内容不同，但为了培养良好的学风，充分发挥学生的主观能动作用，促使其独立思考、独立完成实验并有所创新，我们对实验前、实验中和实验后分别提出如下基本要求： （一）实验前的要求 1．认真阅读实验指导书，明确实验目的要求，理解实验原理，熟悉实验电路及集成芯片，拟出实验方法和步骤，设计实验表格。 2．完成实验指导书中有关预习的相关内容 3．初步估算(或分析)实验结果(包括各项参数和波形)，写出预习报告。 （二）实验中的要求 1．自觉遵守实验室规则。 2．严禁带电接线、拆线或改接线路。 3．根据实验内容准备好实验所需的仪器设备和装置。按实验方案，选择合适的集成芯片，连接实验电路和测试电路。 4．认真记录实验条件和所得各项数据，波形。发生小故障时，应独立思考，耐心排除，并记下排除故障过程和方法。 5．发生焦味、冒烟故障，应立即切断电源。 6．实验结束时，将记录结果送有关指导老师审阅签字。经老师同意后方可拆除线路，清理现场。 7．非本次实验所用的仪器设备，未经老师允许不得动用。没有弄懂仪器设备的使用方法前，不得贸然使用。 8．实验要严肃认真，要保持安静，整洁的实验环境。 （三）实验后的要求 实验后要求学生认真写好实验报告 1．实验报告的内容：（1）实验目的、（2）列出实验的环境条件，使用的主要仪器设备的名称编号，集成芯片的型号、规格、功能。（3）扼要记录实验操作步骤，认真整理和处理测试的数据，绘制实验原理电路图和测试的波形，并列出表格或用坐标纸画出曲线。（4）对测试结果进行理论分析，作出简明扼要的结论。找出产生误差的原因，提出减少实验误差的措施。（5）记录产生故障情况，说明排除故障的过程和方法。（6）写出本次实验的心得体会，以及改进实验的建议。 2．实验报告的要求 文理通顺、书写简洁、符号标准、图表规范、讨论深入、结论简明。 二、常用数字集成芯片的识别与主要性能参数 （一）集成电路的型号命名法 器件的型号由五部分组成，各部分符号及意义见表1.1 注：（1）74：国际通用74系列（民用） 54：国际通用54系列（军用） （2）H：高速 （3）L：低速 （4）LS：低功耗 （5）C：只出现在74系列 （6）M：只出现在54系列 多层陶瓷扁平封装 塑料扁平封装 黑瓷扁平封装 多层陶瓷双列直插封装 黑瓷单列直插封装 黑瓷双列直插封装 塑料单列直插封装 塑料双列直插封装 金属元壳封装 金属菱形封装 陶瓷芯片载体封装 塑料芯片载体封装 网格针栅陈列封装 小引线封装 塑料芯片载体封装 陶瓷芯片载体封装 F B H D J P S T K C E G ┆ SOIC PCC LCC 0~70℃⑤ -25~70℃ -25~85℃ -40~85℃ -55~85℃ -55~125℃⑥ C G L E R M ┆ TTL分为： 54/74×××① 54/74H×××② 54/74L×××③ 54/74S××× 54/74LS×××④ 54/74AS××× 54/74ALS××× 54/74F××× CMOS分为： 4000系列 54/74HC××× 54/74HCT××× TTL电路 HTL电路 ECL电路 CMOS 存储器 微型机电路 线性放大器 稳压器 音响电视电路 非线性电路 接口电路 A/D转换器 D/A转换器 通信专用电路 敏感电路 钟表电路 机电仪电路 复印机电路 T H E C M μ F W D B J AD DA SC SS SW SJ SF ┆ 中国制造 C