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* * TTL 、 CMOS 门参数测试 《数字电路》实验一 一、实验目的 （1）了解 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数及参数意义。 （2）熟悉 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数的测量方法。 （3）掌握 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。 （4）掌握数字电路与逻辑设计实验的基本操作规范。 二、实验所用器件型号及管脚排列 74LS00管脚排列及逻辑符号 CD4011B管脚排列及逻辑符号 74LS244引脚排列及逻辑符号 三、实验内容 1、TTL与非门逻辑功能的测试 （一）基础实验部分 2、TTL与非门参数测试 1)ICCL 、ICCH ICCL ：当所有输入端接高电平时即输出为低电平时电源提 供器件的电流。 ICCH ：当所有输入端接地时即输出为高电平时电源提供器件的电流。 TTL与非门参数测试 2)IIL—输入低电平电流。 测试原理图： 3) IIH—输入高电平电流。 测试原理图： TTL与非门参数测试 4) No:扇出系数，即门的输出端能带动同类门的数目。 输出低电平时的扇出系数： 输出高电平时的扇出系数： IOLmax测试原理图如右图所示: TTL与非门参数测试 5) 电压传输特性曲线 指的是电压Vo随输入电压VI的变化而变化的关系曲线。 VI 0 0.3 0.5 0.85 0.9 0.95 1.0 1.05 1.1 1.15 1.2 1.3 1.4 1.5 VO TTL与非门参数测试 调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性曲线,并在曲线中求得以下参数: 输出高电平VOH, 输出低电压VOL, 关门电平VOFF, 开门电平VON, 阈值电压VTH, 低电平噪声容限VNL, 高电平噪声容限VNH。 6）传输时延tpd的测试 TTL门电路tpd测试电路 （1）电压传输特性测试 （二）提高部分 3、CMOS与非门的参数测试 选用型号为CD4011的集成电路，管脚排列及门电路逻辑符号如图所示，实验时按测量图连接电路，将实验数据记录在表中。 电压测试记录表(单位V) VI 0 1.0 2.0 2.2 2.3 2.35 2.4 2.45 2.50 2.55 2.6 2.7 2.8 3.0 5.0 VO 注：CMOS所有多余的输入端均不能悬空，包括用到的门和没有用到的门的输入端。 （2）传输时延tpd的测试 CMOS门电路tpd的测试电路 传输时延tpd tpd=（tPLH+tPHL）/2 tPHL为导通延迟时间，tPLH为截止延迟时间。 （4）三态门功能测试 选用型号为74LS244的集成电路，参考其引脚排列及逻辑符号，按右边电路图测试高阻状态，将实验结果填入下表。 输入 输出 E A Y 0 0 1 1 0 1 4．用Multisim仿真软件设计TTL逻辑门电路的传输时延tpd测试电路，并用软件仿真该电路求其传输时延tpd。