充电参数对PTFE多孔膜电荷稳定性的影响.pdf

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第 卷第 期增刊 仪 器 仪 表 学 报 年 月 : : ’’* . 充电参数对!#$多孔膜电荷稳定性的影响 吴越华 夏钟福 王飞鹏 邱勋林 同济大学波尔固体物理研究所 上海 % ’’’() 摘要 利用表面电位衰减测量和热刺激放电电流谱 分析 研究了 多孔膜驻极体中的沉积 % ) - % ) *+, .*/0 .1234546782916154:325;5 电荷稳定性与充电条件的关系 结果显示 沉积电荷的稳定性与充电参数有关 本文对这一现象进行了唯象的解释 同时研究 - 了此多孔材料在不同充电参数条件下捕获电荷能阱分布的变化 初步描述其电荷捕获输运规律 - 关键词 驻极体 聚四氟乙烯多孔膜 充电参数 =?@ABCBD?!D@EF!GHGIBJBHKDLMGHFBNJGOE@EJPD?!DHDAK!#$ Q9R95:97 ST7U:1;V89 Q7;V/5TW5;V XT9S9;2T; % g - - qrrrsq- ) YZ[\]^_‘a‘b‘cZdeZ\afe‘h‘cY[i_aj_ kZ^lman^aocp_a‘i e[h^l[ha t[a^h uOKJHGCJ *:565274T1;v54w55;x:76V5y47vT2T437;zW12T;VW767{5456y816W1619y.*/0 525x4654y:7yv55; g | y49zT5zv3{57;y181W5;xT6x9T4*:56{7223+4T{92745z,Tyx:76V57;zy9687x5W145;4T72z5x73 }4w7y819;z4:74 - - 4:5x:76V5y47vT2T43184:5y7{W25Ty6525~7;4414:5W12T;VW767{5456y 8964:56{165 4:5794:1646T5z41zTyx9yy - 4:565y924y{5;4T1;5z7v1~5v3W:5;1{5;121VTx727;723yTy z5yx6Tv5V51{546TxzTy46Tv94T1;y184:5467Wy7;z | 467;yW164184:5x:76V5y9;z56zT88565;4W12T;VW767{5456y8164:TyW1619y{7456T72 !BPDH#K 025x4654 .1619yW1234546782916154:325;5 .12T;VW767{5456 多孔膜 上海塑料所 样品被单面蒸镀厚 直径

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