电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析.pdf

电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析 钟升华．邱福来 (工业和信息化部电子第五研究所，广东 广州 5106lO) 摘 要：通过对在所设计的高加速寿命试验中不同试验阶段出现的故障进行实侧列举与分析。以期有助于生 产厂家在达到较高的试验效费比的同时，设计出更成熟的产品，并对同类生产厂家后续相关试验起到实际的 借鉴与指导作用。 关键词：高加速寿命试验；整机；故障分析 中图分类号：‘rBll4．37；TB24 ofHALTtoElectroIlic ApplicationAnalysis ZHONG Fu—lai Sheng—hua，QIU 510610，China) (CEPREI，Gu蚰铲hou actual陆luresocc唧redindi虢rent oft}le HALTarelisted蛐d Abstr舵t：ne ph鹊es designed to m孤ufacturersmorereliable witIla of benefit—costratio 锄alyzedhelp develop productshigher could arefbrenceforthe ofHALTin testing．neproposed印pro∞hprovide practical印plic“on otllerI_elatedmanufacturers． wOrds：HAIJT；electronic Key equipment；f越lureanalysis O 引言 快速激发产品缺陷，提高试验效率的目的嗍。 Accelerated2应用实例 高加速寿命试验(HAU’：Hi小ly Life Test)技术是一项目前国际上非常流行并被逐 为了便于对产品的故障模式列举与分析．本 步推广的可靠性试验技术．由美国G．K．Hobbs等 文以下实例均为高加速寿命试验中某阶段的部分 人在20世纪80年代末研究发展而来【n．现已广 泛应用于民用与国防工业领域。通过它可以快速发 内容。 现产品潜在的缺陷以助于提升产品耐环境适应能 2．1试验一 力．极大地缩短了产品的研发周期。 a)试验样品与试验设备 1 原理概述 受试样品为已处定型阶段的三相费控智能电能 HALT是一种激发试验方法【2】．它采用对试件表。样品试验前完成了常规的性能测试：主要试验 44一X型HALT 系统地施加步进应力的方法．在试验中对试件施加 设备为美国环测公司生产的Gala)【v 远大于正常使用条件的高强度环境应力．从而达到 试验箱。试验照片见图l。 收稿日期：2012一04—27修回日期：2012-08—07 作者简介：钟升华(1984一)，男，广西蒙山人，工业和信息化部电子第五研究所可靠性与环境工程研究中心助理工程师。