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数值模拟pi界面对微晶硅薄膜太阳电池性能的影响.pdf
第40卷第3期 人 工 晶 体 学 报 V01.40No.3
0FSYNlIHETICCRYSTALS
2011年6月 JOURNAL June.2011
数值模拟p/i界面对微晶硅薄膜
太阳电池性能的影响
苗丽燕,杨仕娥,李艳阳,陈永生,谷锦华,卢景霄
(郑州大学物理工程学院,材料物理教育部重点实验室,郑州450052)
ofMicroelectronicandPhotonic
摘要:采用美国宾州大学开发的AMPS(Analysis Structures)软件模拟了p/i界面缺陷
态密度(州1)和非晶孵化层厚度(d)对piIl型氢化微晶硅(妒-si:H)薄膜太阳电池性能的影响。结果表明:随着
W1的增大,电池的开路电压k和填充因子即单调减小,短路电流L基本不变;随着d的增大,L和FF单调减
小,k反而增大;卅’和d值的增大均会导致电池光电转换效率叼下降。通过对电池内部的电场及能带的分析,对
上述模拟结果进行了解释。
关键词:微晶硅薄膜电池;p/i界面;光电转换效率 ~、
中图分类号:0469 文献标识码:A
NumericalSimulationoftheEffectsof Interfaceonthe
p/i
Performanceof SiliconThinFilmSolarCells
Microcrystalline
MIAO
Li-yan,YANGShi—e,LIYan-yang,CHENYong—sheng,GU以n-hua,LU.尼ng-xiao
ofMaterialsof of
(KeyLaboratory PhysicsMinistryEducation,
School0f and
PhysicsEngineering,ZhengzhouUniversity,Zhen瘩zhou450052,China)
201 23 201
(Rece/m/21January February1)
1,accepted
this effectsof interfacedefectstate thethicknessof
Abstract:In
paper,the p/i density(胖1)and
incubation the ofthe siliconthinfilm
amorphous layer(d)onperformancehydrogenatedmicmcrystalline
solarcellswasstudied was the of inUS.7rhe
AMPS,which
by developedby
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