存储器被广泛应用于高性能的计算机系统中,除了作为.pdfVIP

嵌入式只读存储器的内建自测试设计 刘峰 （玉林师范学院职业技术学院 讲师 广西 玉林 537000） 摘要：随着存储器件日益向着高速、高集成方向发展，依靠外部设备对嵌入式存储器的测试 变得越来越困难，内建自测试是解决这个问题的有效方法。文中详细分析了存储器的故障表 现和诊断算法，给出了嵌入式只读存储器的内建自测试的一种设计实现，同时研究了将边界 扫描技术与只读存储器的内建自测试相结合、形成层次化系统芯片SoC的设计策略。 关键词：嵌入式只读存储器；内建自测试；故障模型；march算法 中图分类号:TN402 Built­inSelf­testforEmbeddedRead­only Memory LIU Feng (Lecturer ,Polytechnic School , Yulin Teachers College, Yulin ,Guangxi 537000) Abstract:With the memory’s growth towards high­speed and high­integrated,to test embedded memory with external equipment is becoming more and more difficult,BIST(built­in self­test) is very effective in solving this problem.In this paper,fault displays and fault diagnosis algorithms of memory is analyzed in detail,a design implementation of embedded ROM BIST is given.Finally,design strategy of combining Boundary Scan Solution with ROMBIST to form hierarchical SoC is discussed. Key words: embedded read­only memory; built­in self­test;fault model;march algorithm 1 引言 存储器被广泛应用于高性能的计算机系统中，除了作为单独产品使用外，目前的趋势是 尽可能把它集成在超大规模集成电路(very­largescaleintegratedcircuit,VLSI)芯片内部，这样 做的优点是明显的：一是由于存储器在芯片内部不需要拖动片外负载电容，读写速度可以大 大加快；二是单独的存储器芯片输入/输出管脚多，封装费用昂贵，集成在芯片内部后就不 存在这个问题，这样就可以大大降低封装成本。随着存储器件日益向着高速、高集成方向发 展，同时带来一个问题，依靠外部设备对这种嵌入式存储器的测试变得越来越困难。内建自 测试(build­in self­test,BIST)方法通过在芯片内部集成少量的逻辑电路实现对集成电路的测 试，被认为是解决这个问题的有效方法之一。 内建自测试作为一种可测性设计方法，能显著改善电路中随机逻辑的可测性，具有高的 故障覆盖率；支持在线测试和at­speed 测试，显著缩短测试时间，这一点对可靠性要求较 高的系统意义重大；降低对自动测试设备的要求；对IP核的必威体育官网网址性高(见文献[1])。 2 存储器故障表现和诊断算法 2.1 存储器的故障表现 根据存储器的结构来划分，存储器的故障表现主要有3类： （1）地址译码电路故障，主要表现为： ① 给定的地址寻不到任何单元； ② 寻址到的单元不唯一； ③ 寻址到的单元不是预期的。 （2）读写逻辑故障，主要表现为： ① 重写或复读，即对某一单元进行读/写操作时却重复读/写多个单元。一般是由于读写 作者:刘峰,男,1969年出生,玉林师范学院讲师,研究方向: 集成电路测试 1 电路的开关时间过长引起的。 ② 在连续读同一比特值后忽然变成另一比特值，读出错误。这一般是由于读写检测放 大器恢复时间过长造成的。 (3) 存储单元阵列的故障，主要表现为： ① 数据间的扰动，包括行、列和单元间的数据相互影响； ②