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2015-09-27 发布于重庆
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ba于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

第17卷第8期电子设计工程 2009年8月 Electronic No．8 Design V01．17 Engineering Aug．2009 基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计张清，特日格乐，董翔 (武汉大学电子信息学院．湖北武汉430079) 摘要：该系统基于扫频外差基本原理，以单片机和FPGA构成的最，l、系统为控制核心，可在任意指定频段内测量被测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、 Hz～100 相频特性曲线显示等部分，在100 kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅频特性和相频特性并自动设1 频段范围。观察不同频段内网络的幅频特性和相频特性，并在示渡器上同时显示幅频曲线和相频曲线。关键词：扫频测试；现场可编程门阵列(FPGA)；频率特·It．；直接教字式频率合成(DDS) 中图分类号：TM932 文献标识码：A 文件编号：167“236(2009)08-0060-03 on of characteristicstesterbased Designfrequency andFPGA single-chipmicrocomputer ZHANG Qing，Terigele，DONGXiang (School Information,Wuhwt ofElectronic University,形妇430079,China) controlledthesmallestconsistsof and isbased Abstract：This Final system，mainlyby system singh-chipmicrocomputer onthebasic of tomeasurethe andthe char- principlesfrequencysweepheterodyne amplitude·frequencyphase-fequency ofthemeasurandin bandanddemonstratethe CUl广veontheoscillo- acteristics network arbitraryappointed corresponding whole ofDDS and detection consists source，measured module， scope．Thesystem sweep8i掣lal network，amplitudephase controlmoduleand and characteris