Ir4+掺杂Co2Z平面六角软磁铁氧体的磁性能.pdf

助 锨——材 跬 ． Ir4+掺杂C02Z平面六角软磁铁氧体的磁性能。 郭世海1’2，冯则坤1，王新林2，何华辉1 (1．华中科技大学电子科学与技术系，湖北武汉430074； 2．钢铁研究总院功能材料研究所，北京100086) 摘要： 采用普通陶瓷工艺制备了I一十掺杂的CozZ氧体材料高频性能研究的报道还很少。本文主要研究 型平面六角铁氧体，研究了少量Ir‘+掺杂对C02Z型铁了少量Ir件离子掺杂对Co。Z型铁氧体材料结构和磁 氧体材料结构和磁性能的影响。结果表明，少量掺杂 性能的影响，并对不同烧结温度对材料的性能影响进 Ir4+的C02Z型铁氧体仍具有单相的Z型平面六角结 行了研究。 构，其磁导率实部产7明显提高。随着烧结温度的提高， 2 实 验 材料的磁导率实部／．L’增大，但截止频率下降。在 1275℃烧结的掺杂Ir．+铁氧体样品，其p’达到16．5， 本实验采用普通陶瓷工艺，制备了成分为(Bao．。 截止颊率仍IGHz，具有较好的高频性能。 关键词：六角晶系铁氧体；C02Z型铁氧体；磁性能； Co。Z型平面六角铁氧体。材料采用以Sr代Ba作为 高频 基本成分，由于Ir‘+离子为四价离子，为保持价态平 中图分类号：TM277 文献标识码：A 文章编号：1001-9731(2009)10—1612-03 C0。、C00、Ir02和Fe203混合湿磨6h后烘干，在 1 引 言 量的浓度为8％的聚乙烯醇(PVA)水溶液进行造粒。 在当今电子信息时代，随着卫星通信、移动通信、 llmmX 在360MPa的压力下将粉料压制成D18mmX 计算机应用的高速发展，电磁干扰(EMI)对军事和民 用电子信息领域的影响日益严重，对公共环境和人身 安全以及信息必威体育官网网址造成了很大的危害。解决或降低电 磁污染和提高电子设备抗电磁干扰能力的有效办法是 结，保温时间均为3．5h。 MPD 采用电磁兼容设计，其中需要大量抗电磁干扰材料[13。 采用Philips’X’PertPro型X射线衍射仪 随着各种电子设备及器件的小型化、集成化和高频化 对样品进行物相分析，射线源为CuKa。采用阿基米 等，如笔记本电脑和手机的工作频率都已达到了GHz 范围，因此，人们迫切要求所选用的抗EMI材料要具 电镜(SEM)对样品断面进行形貌观察及显微组织分 有高的起始磁导率和高的截止频率，从而能够应用于 超高频段。 由于Snoek极限的限制，NiZn尖晶石系铁氧体只 4396B型阻抗分析仪测量样品的复数磁导率随频率变 能应用于300MHz以内的频率范围，在使用频率上受 化的曲线，测试频率范围为1MHz～1．8GHz。 到了限制。Ba3C02Fez。O|-(C02Z)型平面六方晶系铁 氧体，由于存在大的磁晶各向异性场而具有高截止频 3结果与讨论 率，高磁导率，高品质因数，低损耗等优良的软磁性能，