Hilbert谱分析在探地雷达薄层识别中的应用.pdf

第56卷第8期 地 球 物 理 学 报 v01．56，No．8 2013年8月 CHINESEJOURNALOFGEOPHYSICS Aug．，2013 cj920130827． XW，GaoY G ofHilbert inGround Radarthin Zhang Z，FangY．Applicationspectrumanalysis Penetrating layerrecognition． Chinese J．Geophys．(inChinese)，2013，56(8)：2790—2798，doi：10．6038／cj920130827． Hilbert谱分析在探地雷达薄层识别中的应用 张先武1’2，高云泽1，方广有¨ 1中国科学院电子学研究所，电磁辐射与探测技术中国科学院重点实验室，北京 100190 2中国科学院大学，北京 100049 摘要针对实际勘探中的需要，本文对薄层的电磁波反射特性进行了深入研究．薄层在反射电磁波时，会对入射 电磁波进行滤波作用．薄层的类型和厚度会影响其滤波特性，利用此特点，本文将Hilbert谱分析方法引入到薄层 识别中。该方法能将探地雷达对递变型薄层的垂直分辨率提升至a／8．本文利用该方法对实测探地雷达资料进行了 层位识别研究，该方法能很好地提高探地雷达的层位识别能力． 关键词 探地雷达，薄层识别，Hilbert谱分析 doi：10．6038／q920130827中图分类号P631 收稿日期2012—06—13，2013—06—27收修定稿 ofHilbert inGround Applicationspectrumanalysis Penetrating Radarthin layerrecognition ZHANGXian—Wul”，GAOYun—Zel，FANG Guang—Youl+ Electronics and CAS，Institute 1 RadiationSensingTechnologyof of KeyLaboratoryofElectromagnetic Chinese 1 00l90，China AcademyofSciences，Beoring 2 Chinese 100049，China of ofSciences，Beijing University Academy This makesa ofthin reflection in Abstract study electromagneticproperties paper deep layer’S withtheneedofactual thin functionis afiherforincident aceordance layer exploration．The