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PECVD氮化硅薄膜工艺参数研究

第 卷第 期 云南师范大学学报 31 5 Vol.31No.5 年 月 2011 9 JournalofYunnanNormalUniversit Se t.2011         y p PECVD氮化硅薄膜工艺参数研究* , 12 1 1 3 3 2 * 张树明 , 廖华 , 何京鸿 , 尹云坤 , 胡俊涛 , 罗群           ( , ; , ; 云南师范大学太阳能研究所 云南 昆明 昆明医学院 云南 昆明 1 6500922 650032 , ) 云南天达光伏科技股份有限公司 云南 昆明 3 650092 : , 摘 要 根据太阳电池组件的结构和封装材料特性 设计出硅太阳电池片减反射薄膜的最佳厚度和折     , 。 , 射率 利用泰勒公式进行优化 制备氮化硅薄膜的工艺参数 通过实验 找出适合中电 所工 PECVD 48 业生产用管式 PECVD制备氮化硅薄膜的工艺参数。 : ; ; 关键词 PECVD氮化硅减反射膜 工艺参数 优化   中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TK513 A 1007-9793201105-0028-05               一种射频辉光放电的物理过程和化学反应相结合    [ ] 3 , 的技术 其技术原理是利用低温等离子体作能 引 言 , , 1 量源 样品置于低气压下辉光放电的阴极上 然后    

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