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PECVD氮化硅薄膜工艺参数研究
第 卷第 期 云南师范大学学报
31 5 Vol.31No.5
年 月
2011 9 JournalofYunnanNormalUniversit Se t.2011
y p
PECVD氮化硅薄膜工艺参数研究*
,
12 1 1 3 3 2
*
张树明 , 廖华 , 何京鸿 , 尹云坤 , 胡俊涛 , 罗群
( , ; , ;
云南师范大学太阳能研究所 云南 昆明 昆明医学院 云南 昆明
1 6500922 650032
, )
云南天达光伏科技股份有限公司 云南 昆明
3 650092
: ,
摘 要 根据太阳电池组件的结构和封装材料特性 设计出硅太阳电池片减反射薄膜的最佳厚度和折
, 。 ,
射率 利用泰勒公式进行优化 制备氮化硅薄膜的工艺参数 通过实验 找出适合中电 所工
PECVD 48
业生产用管式 PECVD制备氮化硅薄膜的工艺参数。
: ; ;
关键词 PECVD氮化硅减反射膜 工艺参数 优化
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( )
TK513 A 1007-9793201105-0028-05
一种射频辉光放电的物理过程和化学反应相结合
[ ]
3
,
的技术 其技术原理是利用低温等离子体作能
引 言 , ,
1 量源 样品置于低气压下辉光放电的阴极上 然后
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