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LED EL光谱的干涉问题
第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报
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硅衬底垂直结构!#$%’ 多量子阱发光二极管
电致发光谱的干涉现象研究!
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熊传兵 江风益 王 立 方文卿 莫春兰
(南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌 ##$% )
(晶能光电(江西)有限公司,南昌 ##’ )
( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿)
##( $ )( ##( % )(
测试了硅衬底垂直结构芯片在不同空间角度上的电致发光( )谱 指出硅衬底垂直结构 多量子阱发
*+ , -./0123
光二极管的 谱中多个峰型来源于干涉现象,而不是来自于多个阱层的发光 干涉峰的疏密反映 型层厚度的一
*+ , 4
致性,干涉现象的强弱反映 型欧姆接触层反光能力的强弱 芯片法线方向附近发光最强干涉现象最明显,芯片侧
4 ,
边的发光几乎没有干涉现象且发光强度最弱,
关键词: ,发光二极管,垂直结构,电致发光
-./0123
: , , ,
(%)) %(#* %5#+ %(567 %(5#8
空间角度上的电致发光( )谱的谱型及光强分布
*+ ,
)F 引 言
F 实 验
近几年,在硅衬底上生长 -./0123 多量子阱
( )发光二极管( )已成为一个研究热点,并 本文研究的垂直结构芯片是用外延片压焊和湿
GHI +*J
[— ]
且取得了显著的进展) % , 如果将硅衬底上生长的 法腐蚀相结合的技术获得的-./0123 GHI +*J 芯
片,其结构包括 及 缓冲层、 型 层、
-./0123 +*J 薄膜转移到新的衬底上制成垂直结构 123 /03 . /03 6
个周期的 多量子阱层和 型 层,本
的+*J,就可以克服同侧电极结构器件的某些缺点, -./03K /03 4 /03
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