《On Wafer EUCP_SS》.pdf

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2015-10-09 发布于河南
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EOULU DATASHEET On Wafer EUCP 在片 EUCP EOULU Unified Communication Platform 测试操作系统 - 高精度测试 - 超高速测试 - 所有可编程设备轻松接入 - 操作系统独立升级 - 应用独立升级 - 器件测试独立升级 - 节约产品上市时间 - 复杂应用的轻松实现 - 产品规格书 EUCP_ON WAFER 是一个开放式的晶圆在片测试测量操作系统，它能够连接所有开放驱动的可编程设备。其核心采用了全球最先进的模块虚拟化专利技术*，让运行的代码量缩小到最小，保证了测试的稳定性，提高了测试的速度，此外，由EOULU 首先提出的操作系统概念*，让测试变得更加简单易操作。 EUCP_ON WAFER EOULU Unified Communication Platform for probe station 软件环境平台体系结构：x86 操作系统：Windows XP 32 位系统硬件环境 PC 机主频：1G 及以上内存：1G 及以上存储：20G 及以上显卡：推荐支持双显示器的显卡 *EOULU 专利 EOULU DATASHEET 显示器：推荐使用 21 寸或更大的显示器大小约 100M 安装请下载 EUCP.INS.PDF 主体功能 1. 管理所有可编程设备, 可扩展连接 10 个可编程仪表或设备* 2. 可扩展不同测试应用 *超过 10 个设备需要与 EOULU 工程师咨询功能模块 1. 配置功能连接可编程硬件 2. 输入输出和建立测试项目输入输出参数管理, 测试项目管理（recipe）功能 3. 数据分类(bi