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CMOS电路瞬态电流测试方法研究
ISSN1009-3044
ComputerKnow/ed缈And
Techndogy电■知识与技木
V01.3,No.5August Tel:+86—551—56909635690964
2008,PP.1063—1064,1095
CMOS电路瞬态电流测试方法研究
邵韬
(联想集团。北京100085)
摘要:集成电路设计与测试是当今计算机技术研究的主要问题之一。集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成
品率的关键。基于固定型故障模型的测试方法已不能满足高性能集成电路,尤其是对CMoS电路的测试要求。CMoS电路的瞬态
电流(IDDT)测试方法自80年代提出以来,已被工业界采用。作为高可靠芯片的测试手段。
关键词:CMoS电路;瞬态电流;测试
中图分类号:TN4 文献标识码:A 文章编号:1009—3044(2008)23-1063-02
On
Methodof theTransientCurrentofaCMOSCircuit
Testing
SHAOTao
100085,CIliIn)
(LenovoGroupLimited,Beijmg
is in
Abstract:ICandtestoneofthe researchareas basedonstuckatfaultmodelisin-
design major computertechnologytoday.Testing
sufficientfor forCMOS canreducethecostof andenhancetherelia-
highperformanceICs,especially circuits.UsingIDDQtesting testing
ofthe assome defectsinCMOSICsstillcannotbedetected
bility defects,such
chipremarkably.However,somestuck~open byIDDQ
or atthesametimeitfacedsome of leakelectriccurrentin
testingbylogic challengesincreasing technology.
testing,and de叩submicro
to thefault ofthe the
Duetheselimitations,inorderto tomeet demandsof
improve coveragetesting dyⅢac
people,the
was todetectsomefaultsthatcannotbedetectedother methods.
testingproposed by testi.g
words:COMS
Key Circuit;transientcurrent;Test
1引言
集成电路是一块微小的硅片,它包含有几百万个电子元件。术语IC隐含的含义是将多个单独的集成电路集成到一个电路中,
Metal-Oxide—Semiconductor)。它指的是一种特殊类型的电子集成电路(iC)t”。
集成电路技术的高速发展使得一个计算机
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