《TM-EMS-05-01_CS_传导干扰耐受度测试_V1.0》.doc

程智科技股份有限公司 教 育 训 练 手 册 类　　别：电磁耐受度（EMS） Electromagnetic Susceptibility 课　　目：传导干扰耐受度测试（CS） Conducted Susceptibility Immunity Test 适用范围：EMC测试工程师－助理工程师 发行单位：管理中心 发行日期：2008-00-00 档案编号：TM-EMS-05-01 版　　本：1.0 修 版 记 录 版 本 日 期 修 版 内 容 目的： 为使隶属本公司EMC测试助理工程师，在最短时间内对传导干扰耐受度测试，能有最基本的操作执行能力。 内容大纲： 章节 内容 3 适用产品概述及常用标准。 4 相关标准限制值。 5 传导干扰（CS）耐受度测试。 6 测试操作流程大纲。 7 传导干扰耐受度测试软件操作范例。 适用产品概述及常用标准： 产品概述及常用标准 产品定义 无特别标准定义。 典型产品 排 除 性 常用标准 EN 61000-4-6 IEC61000-4-6 相关标准限制值： 耐受度测试标准： 传导干扰耐受度测试位准 位准 限制值 1 1Vrms 2 3Vrms 3 10Vrms 测试结果的评估与分类： Criteria A 在测试过程中，装置要能依功能正常运转；当装置依其功能使用时，在制造者所规定的性能（或是可允许减损的性能）水准下，不允许其性能产生劣化或功能减损；假如制造者未规定最低的性能位准或是可允许的性能减损，则这些劣化或减损情形可以从产品的说明书和其相关文件加以推导，同时也可依使用者照着产品功能使用时，所预期的合理特性加以推导。 Criteria B 测试完成后，装置要能依其功能正常运转；当装置依其功能使用时，在制造者所规定的性能（或是可允许减损的性能）水准下，不允许其性能产生劣化或功能减损；但在测试过程中，性能劣化是允许的，然而不能改变产品的实际操作状态和所储存的资料；假如制造者未规定最低的性能位准或是可允许的性能减损，则这些劣化或减损情形可以从产品的说明书和其相关文件加以推导，同时也可依使用者照着产品功能使用时，所预期的合理特性加以推导。 Criteria C 测试完成后允许暂时失去功能，但其功能要能自动回复，或是透过控制的操作可以被复原，或是可以透过使用说明所规定的任何操作方法加以回复。 Criteria D 测试完成后性能的劣化或丧失，是因硬件或软件的损坏或是因资料流失，以致无法恢复。 传导干扰（CS）耐受度测试： 测试目的： 辐射场感应的传导扰动免疫力。待测物对于有意图发射的射频发射机所产生之电磁扰动的传导干扰。仿真无线电波，电台讯号，雷达波对电力线或讯号线所产生之影响。 如果待测物没有任何一条传导电缆（如电源线或讯号线）能耦合扰动射频场，则不需测试。 测试设备： Signal Generator 。 Power Meter 。 Power Amplifier 。 Coupling / Decouping Network ： 耦合网络（Coupling network）： 所定义的阻抗将能量由一个电路转至另一个电路之电路。 去耦合网络（Decoupling network）： 避免测试信号加在待测物，影响到不在测试的其它装置设备或系统。 EM耦合夹具。 装载测试软件之计算机。（PC or NB） 测试环境与场地： 测试环境温度及湿度： 环境温度：15?C ~ 35?C。 环境湿度：25% ~ 75% R.H.。 大气压力：86Kpa ~ 106Kpa。 测试场地： 符合一般EMS测试条件之实验室即可，无其它特殊条件限制。 架设方式： 任何金属障碍物,距离待测物0.5m，待测物至CDN为0.1m ~ 0.3m，待测物设备至CDN电源线及信号线距离参考地为30mm ~ 50mm，待测物设备放置参考地0.1m的绝缘支撑物上，而多数待测物设备组成其I / O线应束成1m。 外围距离EM耦合夹具＜0.3m且连接I / O线距地30mm ~ 50mm（当AE与EUT同桌）。 待测物架设示意图： EUT架设示意图 3PIN（POWER CDN）电路示意图： R = 300 / 3组（100Ω + 测试产生器为（Source Impedance 150Ω）经由C1耦合（f大XC小），去耦合L（f大XL大）。 耦合与去耦合装置之EUT端口设定配置示意图： 夹具耦合架设示意图： I / O线须放在10CM绝缘支撑物上，M3 - CDN输入埠须以50Ω做为负载终端。 CDN校正图： 测试操作： STEP 1 ： 确认客户要求测试规格。 STEP