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声发射检测 Acoustic Emission Testing 简称 AE 1 声发射检测的原理 材料或结构受外力和内力作用产生变形或断裂，以弹性 波形式释放出应变能的现象称为声发射。发射弹性波的位 置（缺陷）称为声发射源。声发射是一种常见的物理现象， 如果释放的应变能足够大，就可产生人耳听得见的声音。 大多数金属材料塑性变形和断裂时有声发射发生，但许多 金属材料的声及射信号强度很弱，人耳不能直接听见，需 要藉助灵敏的电子仪器才能检测出来。用仪器检测、记录、 分析声发射信号和利用声发射信号推断声发射源的技术称 为声发射技术，所采用的仪器成为声发射仪。 各种材料的声发射的频率很宽，从次声波，到超声波。 声发射传感器检测的信号通常为中心频率为300KHz的超 声波信号。 人们将声发射仪器形象地称为材料的听诊器。如果裂纹 等缺陷处于静止状态，没有变化和扩展，就没有声发射发 生，也就不能实现声发射检测。声发射检测的这一特点使 其区别于超声、X射线、涡流等其它常规无损检测方法。 由于声发射检测是一种动态无损检测方法，而且，声发 射信号来自缺陷本身，因此，用声发射法可以判断缺陷的 严重性。一个同样大小、同样性质的缺陷，当它所处的位 置和所受的应力状态不同时，对结构的损伤程度也不同， 所以它的声发射特征也有差别。明确了来自缺陷的声发射 信号，就可以长期连续地监视缺陷的安全性，这是其它无 损检测方法难以实现的。 除极少材料外，金属和非金属材料在一定条件下都有 声发射发生，所以，声发射检测几乎不受材料的限制。 利用多通道声发射装置，可以对缺陷进行准确的定位。 声发射检测的这一特点对大型结构如球罐等检测特别方 便。 在利用声发射技术确定缺陷部位后，还可以利用其它 无损检测方法加以验证。当然随着信号处理水平的提高， 根据信号本身的特征，也可以对缺陷的性质和严重程度 进行识别。由于声发射技术具有许多独特的优点，近年 来有许多科学家和工程技术人员致力于发展和应用该项 技术。 基本概念： 事件：在右图所示的突发 信号波形经包络检波后， 信号电平超过了设定的 阈值电压Vt后形成一个 矩形脉冲。一个矩形脉 冲就叫做一个事件。 这些事件脉冲数就是 事件计数。单位时间内 的事件计数称为事件计 数率，计数的累积称为 事件总数。 如图，设置一个阈值 电压Vt，当振铃波形 超过这个阈值电压时， 超过的部分就形成矩 形脉冲，对这些矩形 脉冲计数就是振铃计 数，单位时间的振铃 计数称为声发射率， 累加起来称为振铃 总数。 2 声发射检测技术与仪器 声发射源定性问题涉及到AE源信号，包括AE特征量和 AE波形的获取，AE波形含有大量的声发射信息，如利用 当今先进的计算机、信号处理技术对AE波形进行分析处 理，就给较准确的分析AE源性质提高了可能。传统的声 发射技术对声源特征和识别没有采用合适的手段去充分研 究，也就无法实现对缺陷的定性分析。定量的方法也只是 对提取的少量参数进行统计分析。因此，为了更加准确的 对检测对象进行定位、定量、定性分析，更加准确的对检 测对象进行无损评价，具有大吞吐量获取AE波形数据、 灵活布置传感器进行源定位的多通道全波形声发射准实时 检测系统应运而生。 数字信号处理（DSP）和计算机技术的迅速发展导致 全数字式声发射仪的问世，这给瞬态波形分析的研究 创造了条件并使其实际应用成为可能。通过对声发射 信号的全部采集，这样就不会丢失有用的信息，而且 从整个波形信号的细节可以运用现代信号分析手段进 行处理，达到对缺陷定量、定性、定位的目的。 波形分析是指通过分析AE信号的时域波形或频谱特 征来获取信息的一种信号处理方法。理论上讲，波形 分析应当能给出任何所需的信息，因而也是最精确的 方法，并可导致对AE的定量了解。从所记录的AE波形， 人们可以很容易地获得信号的频谱和相关函数等特性， 并可同时得到任何感兴趣的参数。可以肯定，对设备 材料的检验，波形分析技术可能会对识别声发射源及 提高源定位精度有较大作用。 随着数字技术和计算机技术的迅速发展，研制高性能 全波采集的声发射仪成为可能。其原理是，声发射信号经 高灵敏度传感器接收后，经过全波列数字采集变为数字信 号，再进行数字信号处理，最后把信号输入计算机通过软 件设计，对检测缺陷进行定位和定量。 2.1 传感器（换能器、探头） 传感器就是用来把声发射产生的弹性波信号接收下来并 转换成电信号输出到前置放大器在输出到主放大器 然后又采集卡采集后进入计算机。 声发射检测中，要求传感器为宽频带的前置放大器内置 式的共振型高灵敏传感器，主响应频率为150KHz；前置 放大器增益为40dB，滤波器带通为1